公开(公告)号：CN106441812A

公开(公告)日：2017-02-22

申请号：CN201610723643.8

申请日：2016-08-25

Applicant: 电信科学技术第五研究所

Inventor： 李琳莹 ,  甘露 ,  宋志佗 ,  李秋云

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明公开了一种通信光纤宏弯损耗测试方法，将待测通信光纤按照测试要求的半径和圈数绕圈后，置于光功率吸收剂中，采用宏弯损耗测试装置对待测光纤的宏弯损耗进行测试，从而实现在测试过程中有效吸收泄露出光纤的光功率，抑制W波对测试的影响，获得光纤宏弯损耗的真实数值，保证了宏弯损耗测试的准确性和稳定性。

公开(公告)号：CN106338381A

公开(公告)日：2017-01-18

申请号：CN201610725575.9

申请日：2016-08-25

Applicant: 电信科学技术第五研究所

Inventor： 李琳莹 ,  甘露 ,  宋志佗 ,  李秋云

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明公开了一种新型通信光纤宏弯损耗测试装置及测试方法，将待测光纤按照测试要求的弯曲数在四个矩形槽和四个弧形槽组成的密封槽内绕圈布放，采用宏弯损耗测试装置对待测光纤的宏弯损耗进行测试，避免了光纤在四分之一圆弯曲以外发生弯曲而引起新的宏弯损耗对测试结果的影响，减小测试误差，同时，将待测光纤置于检测液中进行测试，进一步抑制了W波对测试结果的影响，从而保证获得的光纤宏弯损耗数值的真实性，保证了光纤宏弯损耗测试的准确性、稳定性和可靠性。