改进低能量大电流带状束注入机中的束中和

    公开(公告)号:CN101257944A

    公开(公告)日:2008-09-03

    申请号:CN200580048222.X

    申请日:2005-12-20

    Abstract: 现代半导体集成电路的制造往往要求涉及大电流低能量带电搀杂剂原子的注入步骤。当使用这样的射束时,添加用于中和空间电荷的影响的电子或负离子对于获得成功往往是有决定性意义的。在没有这种补充的情况下,离子束会“爆炸”,导致强度的损失和束聚焦的破坏。在本公开中,提供用于引入低能量电子和负离子并将其约束在磁场偏转区域内的带状束边界内的方法。描述了用于基于减少电子丢失、等离子体桥接和二次电子产生的来保持中和状态的设备。作为向偏转区域的等离子体引入的一部分,新颖的低温抽运设备选择性地从等离子体流中去除中性原子。

    改进低能量大电流带状束注入机中的束中和

    公开(公告)号:CN101257944B

    公开(公告)日:2011-07-06

    申请号:CN200580048222.X

    申请日:2005-12-20

    Abstract: 现代半导体集成电路的制造往往要求涉及大电流低能量带电搀杂剂原子的注入步骤。当使用这样的射束时,添加用于中和空间电荷的影响的电子或负离子对于获得成功往往是有决定性意义的。在没有这种补充的情况下,离子束会“爆炸”,导致强度的损失和束聚焦的破坏。在本公开中,提供用于引入低能量电子和负离子并将其约束在磁场偏转区域内的带状束边界内的方法。描述了用于基于减少电子丢失、等离子体桥接和二次电子产生的来保持中和状态的设备。作为向偏转区域的等离子体引入的一部分,新颖的低温抽运设备选择性地从等离子体流中去除中性原子。

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