公开(公告)号：CN108733520B

公开(公告)日：2023-10-10

申请号：CN201810318138.4

申请日：2018-04-11

Applicant: 瑞萨电子株式会社

Inventor： 香曾我部诚一

IPC: G06F11/22 ,  G06F11/26 ,  G01R31/3181

Abstract: 提供了检查系统、检查装置和检查方法。确定待检查装置的算术运算功能是否正常。待检查的MCU(13)从检查侧的电源IC(12)获取要用于算术问题的常数。MCU(13)顺序地选择多个算术问题，并根据选择的算术问题使用所获取的常数来执行算术运算。电源IC(12)的监测电路(23)从MCU(13)接收算术问题的算术运算的结果。监测电路(23)将接收的算术运算结果与在监测电路(23)侧计算的算术问题的算术运算结果进行比较。监测电路(23)基于比较结果确定MCU(13)的算术运算功能是否正常工作。

公开(公告)号：CN108733520A

公开(公告)日：2018-11-02

申请号：CN201810318138.4

申请日：2018-04-11

Applicant: 瑞萨电子株式会社

Inventor： 香曾我部诚一

IPC: G06F11/22 ,  G06F11/26 ,  G01R31/3181

Abstract: 提供了检查系统、检查装置和检查方法。确定待检查装置的算术运算功能是否正常。待检查的MCU(13)从检查侧的电源IC(12)获取要用于算术问题的常数。MCU(13)顺序地选择多个算术问题，并根据选择的算术问题使用所获取的常数来执行算术运算。电源IC(12)的监测电路(23)从MCU(13)接收算术问题的算术运算的结果。监测电路(23)将接收的算术运算结果与在监测电路(23)侧计算的算术问题的算术运算结果进行比较。监测电路(23)基于比较结果确定MCU(13)的算术运算功能是否正常工作。