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公开(公告)号：CN115543681A
公开(公告)日：2022-12-30
申请号：CN202210632427.8
申请日：2022-06-06
Applicant: 瑞萨电子株式会社
Abstract: 一种半导体装置，包括：校验子生成电路，被配置为基于数据以及与所述数据相对应的错误校正码来生成校验子码；错误确定电路，被配置为基于所述校验子码来检测所述数据中的1位错误；以及多位错误检测电路，被配置为通过使用被检测为具有1位错误的所述数据的错误地址和被检测为具有1位错误的所述数据的错误校验子码，来确定被检测为具有1位错误的所述数据是否包括多位错误。
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