公开(公告)号：CN109840226A

公开(公告)日：2019-06-04

申请号：CN201811418423.X

申请日：2018-11-26

Applicant: 瑞萨电子株式会社

Inventor： 山口恭平 ,  川上大辅 ,  浜崎博幸

IPC: G06F13/26

Abstract: 本发明的实施例涉及半导体器件及其故障检测方法。一种半导体器件包括中断控制电路，其从电路块接收多个中断信号并向处理器输出中断请求；以及中断监测电路，其与中断信号中的一个中断信号相对应，并且包括用于设置监测类型以及第一监测周期和第二监测周期的设置电路。如果监测类型指示中断信号的断言状态，则中断监测电路监测该断言状态。如果连续断言状态的第一持续时间超过第一监测周期，则中断监测电路将该状态检测为故障。如果监测类型指示中断信号的否定状态，则中断监测电路监测该否定状态。如果连续否定状态的第二持续时间超过第二监测周期，则中断监测电路将该状态检测为故障。

公开(公告)号：CN109840226B

公开(公告)日：2025-02-28

申请号：CN201811418423.X

申请日：2018-11-26

Applicant: 瑞萨电子株式会社

Inventor： 山口恭平 ,  川上大辅 ,  浜崎博幸

IPC: G06F13/26

Abstract: 本发明的实施例涉及半导体器件及其故障检测方法。一种半导体器件包括中断控制电路，其从电路块接收多个中断信号并向处理器输出中断请求；以及中断监测电路，其与中断信号中的一个中断信号相对应，并且包括用于设置监测类型以及第一监测周期和第二监测周期的设置电路。如果监测类型指示中断信号的断言状态，则中断监测电路监测该断言状态。如果连续断言状态的第一持续时间超过第一监测周期，则中断监测电路将该状态检测为故障。如果监测类型指示中断信号的否定状态，则中断监测电路监测该否定状态。如果连续否定状态的第二持续时间超过第二监测周期，则中断监测电路将该状态检测为故障。