半导体器件
    1.
    发明公开
    半导体器件 审中-公开

    公开(公告)号:CN117747613A

    公开(公告)日:2024-03-22

    申请号:CN202311114398.7

    申请日:2023-08-31

    Inventor: 伊喜利勇贵

    Abstract: 本公开涉及一种半导体器件。根据一个实施例,半导体器件包括半导体衬底,其中,当从前表面侧察看时,半导体衬底包括:包括多个IGBT的IGBT区域;被布置成围绕IGBT区域的二极管区域;包括多个二极管的二极管区域;以及被布置成围绕二极管区域的外围区域,其中IGBT包括:漂移层、阻挡层、沟道层、发射极层、沟槽电极对60、沟槽绝缘膜、场停止层和集电极层;并且二极管包括漂移层、半导体层、沟道层、沟槽电极对、沟槽绝缘膜、场停止层和阴极层。

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