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公开(公告)号:CN117747613A
公开(公告)日:2024-03-22
申请号:CN202311114398.7
申请日:2023-08-31
Applicant: 瑞萨电子株式会社
Inventor: 伊喜利勇贵
IPC: H01L27/07 , H01L29/739 , H01L29/861
Abstract: 本公开涉及一种半导体器件。根据一个实施例,半导体器件包括半导体衬底,其中,当从前表面侧察看时,半导体衬底包括:包括多个IGBT的IGBT区域;被布置成围绕IGBT区域的二极管区域;包括多个二极管的二极管区域;以及被布置成围绕二极管区域的外围区域,其中IGBT包括:漂移层、阻挡层、沟道层、发射极层、沟槽电极对60、沟槽绝缘膜、场停止层和集电极层;并且二极管包括漂移层、半导体层、沟道层、沟槽电极对、沟槽绝缘膜、场停止层和阴极层。