公开(公告)号：CN110494899A

公开(公告)日：2019-11-22

申请号：CN201780071911.5

申请日：2017-09-12

Applicant: 瑞士CSEM电子显微技术研发中心

Inventor： 乔纳斯·莱因哈特 ,  克里斯托夫·霍弗 ,  斯特凡诺·卡塔内奥

IPC: G07D7/1205 ,  G01N21/64

Abstract: 一种安全特征(2)，其包括多个发光表面元件(31、32、33)，其中发光寿命在表面元件之间变化。为了验证安全特征，使用一种锁定成像仪。这种情况下，用激发光(E(t))照射安全特征，该激发光被使用调制频率进行了强度调制。在多个像素(81)中，与调制频率同步地检测安全特征发射的冷光(F(t))。这用于确定不同像素(81)中激发光和冷光之间的相移(Φ)的测量(S(Φ))。根据不同像素中相移的测量，验证安全特征。

公开(公告)号：CN110494899B

公开(公告)日：2021-09-21

申请号：CN201780071911.5

申请日：2017-09-12

Applicant: 瑞士CSEM电子显微技术研发中心

Inventor： 乔纳斯·莱因哈特 ,  克里斯托夫·霍弗 ,  斯特凡诺·卡塔内奥

IPC: G07D7/1205 ,  G01N21/64

Abstract: 一种安全特征(2)，其包括多个发光表面元件(31、32、33)，其中发光寿命在表面元件之间变化。为了验证安全特征，使用一种锁定成像仪。这种情况下，用激发光(E(t))照射安全特征，该激发光被使用调制频率进行了强度调制。在多个像素(81)中，与调制频率同步地检测安全特征发射的冷光(F(t))。这用于确定不同像素(81)中激发光和冷光之间的相移(Φ)的测量(S(Φ))。根据不同像素中相移的测量，验证安全特征。