公开(公告)号：CN108519541A

公开(公告)日：2018-09-11

申请号：CN201810366996.6

申请日：2018-04-23

Applicant: 珠海深圳清华大学研究院创新中心

Inventor： 任维强 ,  王志刚

IPC: G01R31/04

Abstract: 本发明公开了一种检测电路及检测设备，基于芯片中的ESD保护电路，包括第一二极管和第二二极管，第一二极管的阳极与第二二极管的阴极连接，第一二极管的阴极与芯片的供电端连接，第二二极管的阳极与芯片的接地端连接，检测电路包括：第一电路的一端与芯片的供电端连接，第一电路的另一端与第一电压输入端连接，第二电路的一端与芯片的接地端连接，第二电路的另一端与第二电压输入端连接，第三电路的一端与芯片的接地端连接，第三电路的另一端接地连接，测试模块与第一二极管的阳极和第二二极管的阴极的连接节点连接。该检测电路通过结合待检测芯片内ESD保护电路中的二极管进行连通性检测，检测结果安全可靠，且电路结构简单。

公开(公告)号：CN207992366U

公开(公告)日：2018-10-19

申请号：CN201820593405.4

申请日：2018-04-23

Applicant: 珠海深圳清华大学研究院创新中心

Inventor： 任维强 ,  王志刚

IPC: G01R31/04

Abstract: 本实用新型公开了一种检测电路及检测设备，基于芯片中的ESD保护电路，包括第一二极管和第二二极管，第一二极管的阳极与第二二极管的阴极连接，第一二极管的阴极与芯片的供电端连接，第二二极管的阳极与芯片的接地端连接，检测电路包括：第一电路的一端与芯片的供电端连接，第一电路的另一端与第一电压输入端连接，第二电路的一端与芯片的接地端连接，第二电路的另一端与第二电压输入端连接，第三电路的一端与芯片的接地端连接，第三电路的另一端接地连接，测试模块与第一二极管的阳极和第二二极管的阴极的连接节点连接。该检测电路通过结合待检测芯片内ESD保护电路中的二极管进行连通性检测，检测结果安全可靠，且电路结构简单。