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公开(公告)号：CN115389953A
公开(公告)日：2022-11-25
申请号：CN202111459513.5
申请日：2021-12-02
IPC: G01R31/385 , G01R31/388 , G01R31/392 , G01R19/00
Abstract: 本发明提供一种判定锂二次电池中的低电压缺陷的方法，该方法包括：测量完成化成工艺的锂二次电池的一次电压；运送锂二次电池；测量锂二次电池在运送过程中的暴露温度；测量完成运送的锂二次电池的二次电压；基于锂二次电池的暴露温度，修正二次电压以计算修正的二次电压；以及比较一次电压和修正的二次电压以判定锂二次电池是否有缺陷。
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