公开(公告)号：CN101842697A

公开(公告)日：2010-09-22

申请号：CN200880113705.7

申请日：2008-10-31

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 藤井朋广 ,  日下靖英

IPC: G01N27/327

CPC classification number: G01N27/3271 ,  B05D5/12 ,  B32B38/04 ,  G01N27/3272

Abstract: 本发明涉及一种分析工具，其包括：基板(10)；第一电极(14)，其形成于基板(10)上，且包含工作电极(14A)；第二电极(15)，其形成于基板(10)上，且包含对电极(15A)；和第一限制元件(11)，其用于限制工作电极(14A)中的与试样接触的接触面积。分析工具具有第二限制元件(18、19)，该第二限制元件(18、19)用于限制工作电极(14A)及对电极(15A)中至少一方上的进行电子授受的有效面积。

公开(公告)号：CN101842696A

公开(公告)日：2010-09-22

申请号：CN200880113733.9

申请日：2008-10-31

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 佐藤义治 ,  藤井朋广

IPC: G01N27/28 ,  G01N27/327 ,  G01N27/416

CPC classification number: G01N27/3272

Abstract: 本发明涉及具备在基板(10)上形成有多个电极(14～47)的结构的分析工具(1)。多个电极(14～47)包含：具有工作电极(14W，15W)的两个以上的第一电极(14，15)；和具有对电极(16C，17C)的一个以上的第二电极(16，17)。分析工具(1)还具备用于使试样移动的流路(13)。优选多个电极(14～17)，以在流路(13)的试样的移动方向(D1，D2)上，工作电极(14W，15W)以及对电极(16C，17C)处于对称的位置关系的方式配置。

公开(公告)号：CN101842697B

公开(公告)日：2016-06-15

申请号：CN200880113705.7

申请日：2008-10-31

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 藤井朋广 ,  日下靖英

IPC: G01N27/327

CPC classification number: G01N27/3271 ,  B05D5/12 ,  B32B38/04 ,  G01N27/3272

Abstract: 本发明涉及一种分析工具，其包括：基板(10)；第一电极(14)，其形成于基板(10)上，且包含工作电极(14A)；第二电极(15)，其形成于基板(10)上，且包含对电极(15A)；和第一限制元件(11)，其用于限制工作电极(14A)中的与试样接触的接触面积。分析工具具有第二限制元件(18、19)，该第二限制元件(18、19)用于限制工作电极(14A)及对电极(15A)中至少一方上的进行电子授受的有效面积。