公开(公告)号：CN109211878B

公开(公告)日：2022-09-06

申请号：CN201810711726.4

申请日：2018-07-03

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 本间紘次郎 ,  桐山健太郎 ,  山田泰史

IPC: G01N21/67 ,  G01N21/66 ,  H05H1/24

Abstract: 本发明提供等离子体分光分析方法。向检体添加与分析对象金属成分不同的对照用金属成分，以形成已知浓度，并向导入了该检体的测定容器中的一对电极施加电流，将上述检体中的分析对象金属成分及对照用金属成分浓缩到一个电极的附近，然后向上述一对的电极施加电流而产生等离子体，并检测所产生的上述分析对象金属成分及上述对照用金属成分的发光，并由通过该检测而得到的发光谱，利用与上述对照用金属成分对应的波长即对照波长中的净发光量即对照发光量来校正与上述分析对象金属成分对应的波长即分析波长中的净发光量即分析发光量，将该校正的值与在预先已知的浓度的分析对象金属成分的测定中得到的校准线比较，由此对该分析对象金属成分进行定量。

公开(公告)号：CN109211878A

公开(公告)日：2019-01-15

申请号：CN201810711726.4

申请日：2018-07-03

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 本间紘次郎 ,  桐山健太郎 ,  山田泰史

IPC: G01N21/67 ,  G01N21/66 ,  H05H1/24

CPC classification number: G01N21/73 ,  G01J3/28 ,  G01J3/443 ,  G01J2003/2866 ,  G01N1/28 ,  G01N21/67 ,  G01N21/69 ,  G01N2001/2893 ,  G01N21/66 ,  H05H1/24

Abstract: 本发明提供等离子体分光分析方法。向检体添加与分析对象金属成分不同的对照用金属成分，以形成已知浓度，并向导入了该检体的测定容器中的一对电极施加电流，将上述检体中的分析对象金属成分及对照用金属成分浓缩到一个电极的附近，然后向上述一对的电极施加电流而产生等离子体，并检测所产生的上述分析对象金属成分及上述对照用金属成分的发光，并由通过该检测而得到的发光谱，利用与上述对照用金属成分对应的波长即对照波长中的净发光量即对照发光量来校正与上述分析对象金属成分对应的波长即分析波长中的净发光量即分析发光量，将该校正的值与在预先已知的浓度的分析对象金属成分的测定中得到的校准线比较，由此对该分析对象金属成分进行定量。