公开(公告)号：CN101163959A

公开(公告)日：2008-04-16

申请号：CN200680013218.4

申请日：2006-04-19

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 藤原稔典 ,  丹治秀树 ,  宇佐川顺之

IPC: G01N21/78

CPC classification number: G01N21/15 ,  G01N21/78 ,  G01N21/8483 ,  G01N2021/152 ,  Y10T436/11

Abstract: 本发明涉及一种分析装置(1)，其具备用于对滴附有试样的分析用具的试剂座进行测光的测光机构(6)，和具有用于载置分析用具的载置部(41)的载置台(4)。该分析装置构成为：清洁用具(22)载置在载置台(4)上，对测光机构(6)中的来自发光元件(66)的光的出射面(68)或入射面(68)进行清洁。本发明还涉及用于对分析装置(1)的测光机构(6)进行清洁的清洁用具(22)。

公开(公告)号：CN101163959B

公开(公告)日：2011-11-16

申请号：CN200680013218.4

申请日：2006-04-19

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 藤原稔典 ,  丹治秀树 ,  宇佐川顺之

IPC: G01N21/78

CPC classification number: G01N21/15 ,  G01N21/78 ,  G01N21/8483 ,  G01N2021/152 ,  Y10T436/11

Abstract: 本发明涉及一种分析装置(1)，其具备用于对滴附有试样的分析用具的试剂座进行测光的测光机构(6)，和具有用于载置分析用具的载置部(41)的载置台(4)。该分析装置构成为：清洁用具(22)载置在载置台(4)上，对测光机构(6)中的来自发光元件(66)的光的出射面(68)或入射面(68)进行清洁。本发明还涉及用于对分析装置(1)的测光机构(6)进行清洁的清洁用具(22)。