公开(公告)号：CN100498320C

公开(公告)日：2009-06-10

申请号：CN03811815.7

申请日：2003-05-19

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 松本大辅 ,  小室秀文 ,  大志万荣作

IPC: G01N27/28 ,  G01N27/327

CPC classification number: B01L9/52 ,  B01L3/5027 ,  B01L2300/0645 ,  B01L2300/0825 ,  B01L2400/0406 ,  G01N33/48757 ,  G01N33/48771 ,  G01N2035/00089 ,  G01N2035/00277 ,  G01N2035/00306 ,  Y10T156/10

Abstract: 本发明涉及在一个或多个密封片(12a、12b)之间收存分析用具(13)的分析用具组件(1)。该分析用具组件(1)具有在使分析用具(13)从密封片(12a、12b)中突出的状态下用于保持分析用具(13)的止动部(146)。分析用具组件(1)优选还具有与密封片(12a、12b)接合的基体薄膜(14)。止动部(146)由密封片(12a、12b)与基体薄膜(14)的接合部分构成。本发明还涉及使用分析用具组件(1)的分析装置。该分析装置具备在分析用具组件(1)上形成切缝(15)的开封机构、和使分析用具(13)相对于密封片(12a、12b)相对地移动、通过切缝(15)使分析用具(13)突出的压出机构。

公开(公告)号：CN100344963C

公开(公告)日：2007-10-24

申请号：CN03802319.9

申请日：2003-01-14

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 大志万荣作 ,  白木裕章

IPC: G01N27/327 ,  G01N27/26 ,  G01N27/416 ,  G01N27/403

CPC classification number: G01N27/3274 ,  G01K1/16 ,  G01N27/3273

Abstract: 本发明涉及一种分析装置(X1)，它包括：用于安装可输出运算用信息的分析用具(2)的安装部(10)；基于运算用信息进行用于分析试样的运算的运算部；和，输出温度信息的温度检测部(12)。分析用具(2)具备试药部(28)，将温度检测部(12)配置成，在安装部(10)安装了分析用具(2)时，位于试药部(28)的正下方区域或正上方区域。分析装置(X1)优选还具备基于温度信息修正运算部的运算结果的温度修正部，温度检测部(12)具备例如接触型温度传感器(12A)。在这种情况下，温度检测部(12)可以包括具有用于与温度传感器(12A)接触、并且与分析用具(2)接触的接触面(12b)的热传导部(12B)。

公开(公告)号：CN1656374A

公开(公告)日：2005-08-17

申请号：CN03811815.7

申请日：2003-05-19

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 松本大辅 ,  小室秀文 ,  大志万荣作

IPC: G01N27/28 ,  G01N27/327

CPC classification number: B01L9/52 ,  B01L3/5027 ,  B01L2300/0645 ,  B01L2300/0825 ,  B01L2400/0406 ,  G01N33/48757 ,  G01N33/48771 ,  G01N2035/00089 ,  G01N2035/00277 ,  G01N2035/00306 ,  Y10T156/10

Abstract: 本发明涉及在一个或多个密封片(12a、12b)之间收存分析用具(13)的分析用具组件(1)。该分析用具组件(1)具有在使分析用具(13)从密封片(12a、12b)中突出的状态下用于保持分析用具(13)的止动部(146)。分析用具组件(1)优选还具有与密封片(12a、12b)接合的基体薄膜(14)。止动部(146)由密封片(12a、12b)与基体薄膜(14)的接合部分构成。本发明还涉及使用分析用具组件(1)的分析装置。该分析装置具备在分析用具组件(1)上形成切缝(15)的开封机构、和使分析用具(13)相对于密封片(12a、12b)相对地移动、通过切缝(15)使分析用具(13)突出的压出机构。

公开(公告)号：CN1618015A

公开(公告)日：2005-05-18

申请号：CN03802319.9

申请日：2003-01-14

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 大志万荣作 ,  白木裕章

IPC: G01N27/327 ,  G01N27/26 ,  G01N27/416 ,  G01N27/28

CPC classification number: G01N27/3274 ,  G01K1/16 ,  G01N27/3273

Abstract: 本发明涉及一种分析装置(X1)，它包括：用于安装可输出运算用信息的分析用具(2)的安装部(10)；基于运算用信息进行用于分析试样的运算的运算部；和，输出温度信息的温度检测部(12)。温度检测部(12)配置在安装部(10)上。分析装置(X1)优选还具备基于温度信息修正运算部的运算结果的温度修正部，温度检测部(12)具备例如接触型温度传感器(12A)。在这种情况下，温度检测部(12)可以包括具有用于与温度传感器(12A)接触、并且与分析用具(2)接触的接触面(12b)的热传导部(12B)。