公开(公告)号：CN105784675B

公开(公告)日：2020-01-07

申请号：CN201610022123.4

申请日：2016-01-13

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 白木裕章 ,  冈井均

IPC: G01N21/66

Abstract: 本发明提供简便且分析灵敏度高的等离子体分光分析方法和等离子体分光分析装置。本发明的等离子体分光分析方法的特征在于，包括下述工序：浓缩工序，在试样的存在下，通过向一对电极施加电压，在至少一个电极的附近将所述试样中的分析对象物进行浓缩；以及检测工序，通过对所述一对电极施加电压而产生等离子体，对在所述等离子体的作用下产生的所述分析对象物的发光进行检测。

公开(公告)号：CN105784675A

公开(公告)日：2016-07-20

申请号：CN201610022123.4

申请日：2016-01-13

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 白木裕章 ,  冈井均

IPC: G01N21/66

Abstract: 本发明提供简便且分析灵敏度高的等离子体分光分析方法和等离子体分光分析装置。本发明的等离子体分光分析方法的特征在于，包括下述工序：浓缩工序，在试样的存在下，通过向一对电极施加电压，在至少一个电极的附近将所述试样中的分析对象物进行浓缩；以及检测工序，通过对所述一对电极施加电压而产生等离子体，对在所述等离子体的作用下产生的所述分析对象物的发光进行检测。