公开(公告)号：CN111238390A

公开(公告)日：2020-06-05

申请号：CN202010172384.0

申请日：2020-03-12

Applicant: 燕山大学

Inventor： 齐跃峰 ,  宫宸博 ,  王楠楠 ,  王一晴 ,  刘燕燕

IPC: G01B11/16

Abstract: 本发明涉及一种检测金属深孔微弯的探测器及其方法，该探测器包括传感器组件和连接在传感器组件输入端的光开关，以及连接在光开关输入端的环形器，所述环形器的输入端连接有宽带光源，所述环形器的另一个输出端与耦合器的输入端连接，且所述耦合器的输出端分别与光功率计和解调仪的输入端连接。本发明提出的检测方法采用F-P干涉原理，其中光纤端面与金属深孔内壁构成F-P腔结构，利用峰值检波的方法解调出F-P腔长与自由谱宽之间的关系，确定了金属深孔内壁与传感探测器之间的距离，该精度可达μm量级，能够精准判断金属深孔的微弯程度及位置，具有非常理想的技术效果。

公开(公告)号：CN111238390B

公开(公告)日：2021-08-17

申请号：CN202010172384.0

申请日：2020-03-12

Applicant: 燕山大学

Inventor： 齐跃峰 ,  宫宸博 ,  王楠楠 ,  王一晴 ,  刘燕燕

IPC: G01B11/16

Abstract: 本发明涉及一种检测金属深孔微弯的探测器及其方法，该探测器包括传感器组件和连接在传感器组件输入端的光开关，以及连接在光开关输入端的环形器，所述环形器的输入端连接有宽带光源，所述环形器的另一个输出端与耦合器的输入端连接，且所述耦合器的输出端分别与光功率计和解调仪的输入端连接。本发明提出的检测方法采用F‑P干涉原理，其中光纤端面与金属深孔内壁构成F‑P腔结构，利用峰值检波的方法解调出F‑P腔长与自由谱宽之间的关系，确定了金属深孔内壁与传感探测器之间的距离，该精度可达μm量级，能够精准判断金属深孔的微弯程度及位置，具有非常理想的技术效果。