用于FTIR光谱的背景生成
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113490841B

    公开(公告)日:2024-10-11

    申请号:CN202080017040.0

    申请日:2020-02-27

    Abstract: 描述了一种在光谱仪中自动生成背景测量的方法的实施例,所述实施例包含以下步骤:在所述光谱仪中收集多次候选扫描;针对所述多次候选扫描中的每一个确定所述候选扫描是否与与最近背景描述相关联的正交基组相关;将与所述正交基组相关的每次候选扫描保存为扫描缓存中的背景扫描;以及如果当前背景测量早于预选时间间隔,则从存储在所述扫描缓存中的多个背景扫描中生成新背景测量。

    用于FTIR光谱的背景生成
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113490841A

    公开(公告)日:2021-10-08

    申请号:CN202080017040.0

    申请日:2020-02-27

    Abstract: 描述了一种在光谱仪中自动生成背景测量的方法的实施例,所述实施例包含以下步骤:在所述光谱仪中收集多次候选扫描;针对所述多次候选扫描中的每一个确定所述候选扫描是否与与最近背景描述相关联的正交基组相关;将与所述正交基组相关的每次候选扫描保存为扫描缓存中的背景扫描;以及如果当前背景测量早于预选时间间隔,则从存储在所述扫描缓存中的多个背景扫描中生成新背景测量。

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