公开(公告)号：CN107144550A

公开(公告)日：2017-09-08

申请号：CN201611169482.9

申请日：2016-12-16

申请人： 湘潭大学

发明人： 钟向丽 ,  张园 ,  郭泉 ,  王金斌 ,  周益春 ,  林福平

IPC分类号： G01N21/55 ,  G01N21/59

CPC分类号： G01N21/55 ,  G01N21/59 ,  G01N2021/558

摘要： 本发明公开了一种利用光学二次谐波测定铁电薄膜畴取向的系统，包括透射测试系统和反射测试系统，所述透射测试系统包括激光发射模块、待测样品安装模块和透射激光接收模块，所述反射测试系统包括激光发射模块、待测样品安装模块和反射激光接收模块。本发明还提供了一种利用光学二次谐波测定铁电薄膜畴取向的方法，包括安装样品、建立二次谐波与入射光偏振角度和样品旋转角度之间的依赖关系以及根据该二次谐波计算铁电薄膜畴取向的步骤。本发明的利用光学二次谐波测定铁电薄膜畴取向的系统及方法具有非接触、灵敏度高、高效和非破坏性的优点，对于促进铁电材料的应用和发展具有重大的科学意义和商业价值。