公开(公告)号：CN112526173A

公开(公告)日：2021-03-19

申请号：CN202011430692.5

申请日：2020-12-09

Applicant: 湘潭大学

Inventor： 彭金峰 ,  黄宽 ,  郑学军 ,  张嘉林 ,  何文远 ,  李立豪

IPC: G01Q60/24

Abstract: 本发明涉及一种检测材料晶界的晶体结构的方法，将待检测材料置于原子力显微镜的样品仓中，施加法向载荷，获取待检测材料的摩擦信号；缩小原子力显微镜的扫描范围，增大原子力显微镜的扫描频率，获取待检测材料的晶界上的摩擦信号；对摩擦信号进行傅里叶变换，获得低通滤波图像，即为待检测材料晶界的晶体结构。本发明的方法简单、快速，且无需对待检测样品进行预处理，也不会损伤样品。

公开(公告)号：CN112526173B

公开(公告)日：2023-05-16

申请号：CN202011430692.5

申请日：2020-12-09

Applicant: 湘潭大学

Inventor： 彭金峰 ,  黄宽 ,  郑学军 ,  张嘉林 ,  何文远 ,  李立豪

IPC: G01Q60/24

Abstract: 本发明涉及一种检测材料晶界的晶体结构的方法，将待检测材料置于原子力显微镜的样品仓中，施加法向载荷，获取待检测材料的摩擦信号；缩小原子力显微镜的扫描范围，增大原子力显微镜的扫描频率，获取待检测材料的晶界上的摩擦信号；对摩擦信号进行傅里叶变换，获得低通滤波图像，即为待检测材料晶界的晶体结构。本发明的方法简单、快速，且无需对待检测样品进行预处理，也不会损伤样品。