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公开(公告)号:CN107843825B
公开(公告)日:2024-06-11
申请号:CN201711151479.9
申请日:2017-11-18
Applicant: 湖南艾华集团股份有限公司
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明公开了一种电容器老化设备,采用单厢老化机,单厢老化机包括厢体及设置于厢体内由多个老化排架构成的进出循环架构,单厢老化机的厢体内设有多个用于试验不同老化温度的老化试验区,进出循环架构包括分布于各个老化试验区内用于试验待老化电容的第一回路和第二回路,第一回路包括第一电源端子、以及多组并联于第一电源端子上的第一电容老化支路,每个第一电容老化支路包括热敏电阻及与热敏电阻相串联的第一待老化电容,第二回路包括第二电源端子、以及多组并联于第二电源端子上的第二电容老化支路,每个第二电容老化支路上串联有第二待老化电容。本发明提供的电容器老化设备,占用空间小;并可迅速剔除不良品,提高电容老化试验质量。
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公开(公告)号:CN107843825A
公开(公告)日:2018-03-27
申请号:CN201711151479.9
申请日:2017-11-18
Applicant: 湖南艾华集团股份有限公司
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2601 , G01R31/2642
Abstract: 本发明公开了一种电容器老化设备,采用单厢老化机,单厢老化机包括厢体及设置于厢体内由多个老化排架构成的进出循环架构,单厢老化机的厢体内设有多个用于试验不同老化温度的老化试验区,进出循环架构包括分布于各个老化试验区内用于试验待老化电容的第一回路和第二回路,第一回路包括第一电源端子、以及多组并联于第一电源端子上的第一电容老化支路,每个第一电容老化支路包括热敏电阻及与热敏电阻相串联的第一待老化电容,第二回路包括第二电源端子、以及多组并联于第二电源端子上的第二电容老化支路,每个第二电容老化支路上串联有第二待老化电容。本发明提供的电容器老化设备,占用空间小;并可迅速剔除不良品,提高电容老化试验质量。
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公开(公告)号:CN207601238U
公开(公告)日:2018-07-10
申请号:CN201721545225.0
申请日:2017-11-18
Applicant: 湖南艾华集团股份有限公司
IPC: G01R31/26
Abstract: 本实用新型公开了一种电容器老化设备,采用单厢老化机,单厢老化机包括厢体及设置于厢体内由多个老化排架构成的进出循环架构,单厢老化机的厢体内设有多个用于试验不同老化温度的老化试验区,进出循环架构包括分布于各个老化试验区内用于试验待老化电容的第一回路和第二回路,第一回路包括第一电源端子、以及多组并联于第一电源端子上的第一电容老化支路,每个第一电容老化支路包括热敏电阻及与热敏电阻相串联的第一待老化电容,第二回路包括第二电源端子、以及多组并联于第二电源端子上的第二电容老化支路,每个第二电容老化支路上串联有第二待老化电容。本实用新型提供的电容器老化设备,占用空间小;并可迅速剔除不良品,提高电容老化试验质量。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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