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公开(公告)号：CN112348810A
公开(公告)日：2021-02-09
申请号：CN202011380684.4
申请日：2020-11-30
Applicant: 湖南大学
Abstract: 本发明公开了一种在役电子系统可靠性评估方法，包括以下步骤：步骤1，给电子系统供电，获取电子系统温度分布图像序列；步骤2，提取元器件子块区域；步骤3，获得各元器件的温度值随时间变化的序列数据；步骤4，建立维纳过程模型，得到电子系统的可靠度函数；步骤5，以各元器件工作温度连续两次超过安全阈值的时间间隔为随机变量，根据极大似然估计法确定漂移参数与扩散系数的先验估计值；步骤6，采用贝叶斯方法逐步更新模型参数，计算得到漂移系数与扩散系数的后验估计值，从而估算电子系统在不同退化程度下的可靠度。本发明采用两次越过阈值的时间间隔来进行失效分析和可靠性评估，具有良好的鲁棒性和准确性。
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公开(公告)号：CN112348810B
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202011380684.4
申请日：2020-11-30
Applicant: 湖南大学
Abstract: 本发明公开了一种在役电子系统可靠性评估方法，包括以下步骤：步骤1，给电子系统供电，获取电子系统温度分布图像序列；步骤2，提取元器件子块区域；步骤3，获得各元器件的温度值随时间变化的序列数据；步骤4，建立维纳过程模型，得到电子系统的可靠度函数；步骤5，以各元器件工作温度连续两次超过安全阈值的时间间隔为随机变量，根据极大似然估计法确定漂移参数与扩散系数的先验估计值；步骤6，采用贝叶斯方法逐步更新模型参数，计算得到漂移系数与扩散系数的后验估计值，从而估算电子系统在不同退化程度下的可靠度。本发明采用两次越过阈值的时间间隔来进行失效分析和可靠性评估，具有良好的鲁棒性和准确性。
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