公开(公告)号：CN118966004A

公开(公告)日：2024-11-15

申请号：CN202411121042.0

申请日：2024-08-15

Applicant: 湖北工业大学

Inventor： 许正望 ,  朱志恒 ,  黄周 ,  杨继鑫

IPC: G06F30/27 ,  G06N20/20 ,  G06F18/2135 ,  G06F119/02

Abstract: 本发明涉及一种压敏电阻失效寿命阈值确定方法及装置，属于设备测试技术领域，其中，该压敏电阻失效寿命阈值确定方法包括：基于PCA算法将压敏电阻测试数据集的维度降至二维，得到第一数据矩阵；基于孤立森林算法确定第一数据矩阵中的所有异常测试数据；基于第一数据矩阵中的所有异常测试数据，确定压敏电阻的失效寿命阈值。本发明实现了压敏电阻失效寿命阈值的确定，进而提高了压敏电阻使用时的安全性。

公开(公告)号：CN118627404A

公开(公告)日：2024-09-10

申请号：CN202411109906.7

申请日：2024-08-14

Applicant: 湖北工业大学

Inventor： 许正望 ,  朱志恒 ,  黄周 ,  杨继鑫

IPC: G06F30/27 ,  G06F18/27 ,  G06F18/2135 ,  G06F18/15 ,  G06N3/006 ,  G06F119/04 ,  G06F111/10

Abstract: 本发明涉及一种压敏电阻的寿命预测方法、装置、电子设备及存储介质，属于设备测试技术领域，其中，该压敏电阻的寿命预测方法包括：将归一化后的待测压敏电阻的测试数据输入寿命预测模型；基于寿命预测模型和归一化后的待测压敏电阻的测试数据，对待测压敏电阻的寿命进行预测，得到待测压敏电阻的寿命预测结果；其中，寿命预测模型为经过PSO优化的SVR模型，寿命预测模型是基于经过PCA算法优化的压敏电阻测试数据训练集训练得到的。本发明在实现压敏电阻寿命预测的同时，提高了寿命预测的准确性，进而提高了压敏电阻使用的安全性。