公开(公告)号：CN107588927B

公开(公告)日：2020-04-24

申请号：CN201710596127.8

申请日：2017-07-20

Applicant: 湖北工业大学

Inventor： 欧艺文 ,  成纯富 ,  吕辉 ,  黄楚云 ,  廖军 ,  曾言 ,  杨张永

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明涉及基于频移干涉技术的弱光纤光栅反射率的测量方法，该方法采用频移干涉技术在线获取阵列中每个弱光纤光栅的反射谱和位置，利用光谱遮蔽校正方法由参考弱光栅的反射率依次实现每个待测弱光纤光栅的反射率测量，测量范围宽，消除了光源不平坦度的影响，并且大大降低了系统成本，能够满足大规模阵列中弱光纤光栅的同步精确测量需求。

公开(公告)号：CN107588927A

公开(公告)日：2018-01-16

申请号：CN201710596127.8

申请日：2017-07-20

Applicant: 湖北工业大学

Inventor： 欧艺文 ,  成纯富 ,  吕辉 ,  黄楚云 ,  廖军 ,  曾言 ,  杨张永

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明涉及基于频移干涉技术的弱光纤光栅反射率的测量方法，该方法采用频移干涉技术在线获取阵列中每个弱光纤光栅的反射谱和位置，利用光谱遮蔽校正方法由参考弱光栅的反射率依次实现每个待测弱光纤光栅的反射率测量，测量范围宽，消除了光源不平坦度的影响，并且大大降低了系统成本，能够满足大规模阵列中弱光纤光栅的同步精确测量需求。