公开(公告)号：CN107664660A

公开(公告)日：2018-02-06

申请号：CN201710835569.3

申请日：2017-09-15

Applicant: 清华大学深圳研究生院

Inventor： 余泉 ,  宋宇 ,  王晓浩 ,  钱翔 ,  倪凯

IPC: G01N27/64

Abstract: 本发明公开了一种质谱分析用样品靶及其制备方法、质谱分析方法。质谱分析方法，包括以下步骤：S1，将聚酰亚胺粘贴固定在一基体上；S2，使用功率为2.4～5.6W，扫描速率为80mm/s～200mm/s的激光照射所述聚酰亚胺，以在照射点形成微观形貌为多层多孔的氧化石墨烯；S3，将待测样品直接点样在所述氧化石墨烯上；S4，将承载有待测样品的基体放入质谱分析仪中，使用激光照射所述氧化石墨烯与所述待测样品形成的共结晶，进行质谱分析。本发明质谱分析方法，在低质量区的干扰小，提高了基质辅助激光解吸质谱的灵敏度并降低分析时间和分析成本。

公开(公告)号：CN107664660B

公开(公告)日：2020-10-23

申请号：CN201710835569.3

申请日：2017-09-15

Applicant: 清华大学深圳研究生院

Inventor： 余泉 ,  宋宇 ,  王晓浩 ,  钱翔 ,  倪凯

IPC: G01N27/64

Abstract: 本发明公开了一种质谱分析用样品靶及其制备方法、质谱分析方法。质谱分析方法，包括以下步骤：S1，将聚酰亚胺粘贴固定在一基体上；S2，使用功率为2.4～5.6W，扫描速率为80mm/s～200mm/s的激光照射所述聚酰亚胺，以在照射点形成微观形貌为多层多孔的氧化石墨烯；S3，将待测样品直接点样在所述氧化石墨烯上；S4，将承载有待测样品的基体放入质谱分析仪中，使用激光照射所述氧化石墨烯与所述待测样品形成的共结晶，进行质谱分析。本发明质谱分析方法，在低质量区的干扰小，提高了基质辅助激光解吸质谱的灵敏度并降低分析时间和分析成本。