一种基于阵列检测器的双光束探测系统

    公开(公告)号:CN201540159U

    公开(公告)日:2010-08-04

    申请号:CN200920222316.X

    申请日:2009-09-01

    Inventor: 金霞 丁志田

    Abstract: 一种基于阵列检测器的双光束探测系统,属于光谱分析仪器领域,它解决了现有的单光束阵列光谱仪存在的稳定性较差的问题。本实用新型的分光系统用于将部分输入光作为样品光进行分光,并将按波长排列的阵列光谱输出给阵列检测器;入射光纤用于直接耦合部分输入光作为参比光输出给阵列检测器;阵列检测器根据其阵列特性将像元分区,用于同时接收阵列样品光谱、参比光及暗电流等信号,再经过电器系统的处理实现双光束阵列检测系统。本实用新型的系统实现简单,不会增加仪器的成本,只使用一个检测器还能够避免由不同检测器差异给系统带来的误差。

Patent Agency Ranking