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公开(公告)号：CN101487740A
公开(公告)日：2009-07-22
申请号：CN200910077464.1
申请日：2009-02-12
Applicant: 清华大学
IPC: G01J5/20
Abstract: 本发明涉及一种三CCD温度场测量装置，包括：光学镜头，用于光学成像，将待测物体的辐射聚焦在分光棱镜组的入射面上；分光棱镜组，将投射的辐射等分为三束不同方向的波段辐射，分别从三个出射面出射；三个CCD面阵传感器，分别设置于分光棱镜组的三个出射面处，对三路经过不同光谱透过率分布的滤光片的出射辐射进行成像，获得三路光谱非相关的CCD图像；数据采集分析单元，对三路CCD图像数据进行采集，并利用多光谱测温法进行温度场计算。本发明还涉及一种对应的温度场测量方法。本发明的技术方案可以实现温度场测量，应用范围广泛；且技术方案实现简单，在高温检测等工业生产领域易于推广应用。
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公开(公告)号：CN101294867A
公开(公告)日：2008-10-29
申请号：CN200810114326.1
申请日：2008-06-03
Applicant: 清华大学
Abstract: 本发明涉及一种CCD成像设备相对光谱响应特性的标定方法，包括：A.以已知光谱辐射分布的光源为测量物体，利用待标定的CCD成像设备对测量物体成像，获取图像并分析得到测量值；B.通过调整光源的热力学温度和/或采用滤色片，改变进入CCD成像设备的光谱辐射通量；C.根据已知的CCD成像设备辐射传输数学物理方程，构造描述测量值与相对光谱响应之间对应关系的数学物理方程组；D.以不同光谱辐射通量下CCD成像设备的测量值为已知量，求解数学物理方程组，以标定CCD成像设备的相对光谱响应特性。本发明还公开了一种CCD成像设备相对光谱响应特性的标定系统。其实现的标定方法简单有效，且可避免引入仪器的测量传递误差。
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公开(公告)号：CN101329411B
公开(公告)日：2011-08-17
申请号：CN200810116082.0
申请日：2008-07-02
Applicant: 清华大学
Abstract: 本发明公开了一种高温热源的检测方法，包括将待检测目标的入射辐射分解为可见光光谱辐射和近红外光谱辐射；采集所述可见光光谱辐射和近红外光谱辐射的图像；根据所述采集的可见光光谱辐射和近红外光谱辐射的图像，判断所述待检测目标中是否含有高温热源。本发明还公开了一种高温热源的检测装置，包括分光棱镜、第一黑白CCD传感器、第二黑白CCD传感器和高温热源诊断单元。本发明通过双路CCD和分光棱镜的技术方案，在温度范围800K～2000K高温热源的辐射与背景噪声辐射在传感器响应区间的表现强度相近时，能有效地检测出待检测目标的高温热源。
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公开(公告)号：CN101294867B
公开(公告)日：2011-01-26
申请号：CN200810114326.1
申请日：2008-06-03
Applicant: 清华大学
Abstract: 本发明涉及一种CCD成像设备相对光谱响应特性的标定方法，包括：A、以已知光谱辐射分布的光源为测量物体，利用待标定的CCD成像设备对测量物体成像，获取图像并分析得到测量值；B、通过调整光源的热力学温度和/或采用滤色片，改变进入CCD成像设备的光谱辐射通量；C、根据已知的CCD成像设备辐射传输数学物理方程，构造描述测量值与相对光谱响应之间对应关系的数学物理方程组；D、以不同光谱辐射通量下CCD成像设备的测量值为已知量，求解数学物理方程组，以标定CCD成像设备的相对光谱响应特性。本发明还公开了一种CCD成像设备相对光谱响应特性的标定系统。其实现的标定方法简单有效，且可避免引入仪器的测量传递误差。
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公开(公告)号：CN101476942A
公开(公告)日：2009-07-08
申请号：CN200910077462.2
申请日：2009-02-12
Applicant: 清华大学
IPC: G01J5/60
Abstract: 本发明涉及一种基于彩色CCD的温度场测量装置，包括：滤色片，具有两个单峰透过率响应特性，置于光学镜头前，以改变待测物体光学成像的光谱分布；光学镜头，将透过滤色片的待测物体辐射聚焦于彩色CCD面阵传感器的焦平面；彩色CCD面阵传感器，对光学镜头聚焦的待测物体辐射进行成像，获取红、绿、蓝三路光谱响应数据；数据采集分析单元，对三路光谱响应数据进行采集，并利用比色测温法进行温度场的计算。本发明还涉及一种对应的温度场测量方法。本发明的技术方案可以实现温度场测量，能够获取更为丰富的高温物体温度信息；且技术方案实现简单，集成系统的成本不高、性能稳定，在高温检测等工业生产领域易于推广应用。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101487740B
公开(公告)日：2011-06-29
申请号：CN200910077464.1
申请日：2009-02-12
Applicant: 清华大学
IPC: G01J5/20
Abstract: 本发明涉及一种三CCD温度场测量装置，包括：光学镜头，用于光学成像，将待测物体的辐射聚焦在分光棱镜组的入射面上；分光棱镜组，将投射的辐射等分为三束不同方向的波段辐射，分别从三个出射面出射；三个CCD面阵传感器，分别设置于分光棱镜组的三个出射面处，对三路经过不同光谱透过率分布的滤光片的出射辐射进行成像，获得三路光谱非相关的CCD图像；数据采集分析单元，对三路CCD图像数据进行采集，并利用多光谱测温法进行温度场计算。本发明还涉及一种对应的温度场测量方法。本发明的技术方案可以实现温度场测量，应用范围广泛；且技术方案实现简单，在高温检测等工业生产领域易于推广应用。
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公开(公告)号：CN101476942B
公开(公告)日：2010-09-01
申请号：CN200910077462.2
申请日：2009-02-12
Applicant: 清华大学
IPC: G01J5/60
Abstract: 本发明涉及一种基于彩色CCD的温度场测量装置，包括：滤色片，具有两个单峰透过率响应特性，置于光学镜头前，以改变待测物体光学成像的光谱分布；光学镜头，将透过滤色片的待测物体辐射聚焦于彩色CCD面阵传感器的焦平面；彩色CCD面阵传感器，对光学镜头聚焦的待测物体辐射进行成像，获取红、绿、蓝三路光谱响应数据；数据采集分析单元，对三路光谱响应数据进行采集，并利用比色测温法进行温度场的计算。本发明还涉及一种对应的温度场测量方法。本发明的技术方案可以实现温度场测量，能够获取更为丰富的高温物体温度信息；且技术方案实现简单，集成系统的成本不高、性能稳定，在高温检测等工业生产领域易于推广应用。
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公开(公告)号：CN101476939B
公开(公告)日：2010-09-01
申请号：CN200910077463.7
申请日：2009-02-12
Applicant: 清华大学
Abstract: 本发明涉及一种双CCD温度场测量装置，包括：光学镜头，用于将待测物体的辐射聚焦在分光棱镜组的入射面上；分光棱镜组，将投射的辐射分解为近红外波段辐射及可见光波段辐射，分别从两个出射面出射；黑白CCD面阵传感器，对近红外波段辐射进行成像，获取近红外波段辐射信号；彩色CCD面阵传感器，对可见光波段辐射进行成像，并分解转换为红、绿、蓝三路波段辐射信号；数据采集分析单元，采集近红外波段辐射信号及红、绿、蓝三路波段辐射信号共四路测量信号，并利用多光谱测温法进行温度场计算。本发明还涉及一种对应的温度场测量方法。本发明的技术方案可以实现温度场测量，应用范围广泛；且技术方案实现简单，在高温检测等工业生产领域易于推广应用。
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公开(公告)号：CN101476939A
公开(公告)日：2009-07-08
申请号：CN200910077463.7
申请日：2009-02-12
Applicant: 清华大学
Abstract: 本发明涉及一种双CCD温度场测量装置，包括：光学镜头，用于将待测物体的辐射聚焦在分光棱镜组的入射面上；分光棱镜组，将投射的辐射分解为近红外波段辐射及可见光波段辐射，分别从两个出射面出射；黑白CCD面阵传感器，对近红外波段辐射进行成像，获取近红外波段辐射信号；彩色CCD面阵传感器，对可见光波段辐射进行成像，并分解转换为红、绿、蓝三路波段辐射信号；数据采集分析单元，采集近红外波段辐射信号及红、绿、蓝三路波段辐射信号共四路测量信号，并利用多光谱测温法进行温度场计算。本发明还涉及一种对应的温度场测量方法。本发明的技术方案可以实现温度场测量，应用范围广泛；且技术方案实现简单，在高温检测等工业生产领域易于推广应用。
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公开(公告)号：CN101329411A
公开(公告)日：2008-12-24
申请号：CN200810116082.0
申请日：2008-07-02
Applicant: 清华大学
Abstract: 本发明公开了一种高温热源的检测方法，包括将待检测目标的入射辐射分解为可见光光谱辐射和近红外光谱辐射；采集所述可见光光谱辐射和近红外光谱辐射的图像；根据所述采集的可见光光谱辐射和近红外光谱辐射的图像，判断所述待检测目标中是否含有高温热源。本发明还公开了一种高温热源的检测装置，包括分光棱镜、第一黑白CCD传感器、第二黑白CCD传感器和高温热源诊断单元。本发明通过双路CCD和分光棱镜的技术方案，在温度范围800K～2000K高温热源的辐射与背景噪声辐射在传感器响应区间的表现强度相近时，能有效地检测出待检测目标的高温热源。
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