神经网络测试方法、装置、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN115374898B

    公开(公告)日:2023-04-25

    申请号:CN202210924040.X

    申请日:2022-08-02

    Applicant: 清华大学

    Inventor: 张超 汪嘉来 李琦

    Abstract: 本发明涉及计算机技术领域,尤其涉及一种神经网络测试方法、装置、设备及存储介质。方法包括:获取初始测试例,以及获取初始测试例对应的连续扰动;将连续扰动添加至初始测试例,获得扰动测试例;将扰动测试例输入需要测试的目标神经网络模型,获得目标神经网络模型输出的至少一个决策的决策置信度;根据决策置信度,获取目标神经网络模型对应的错误测试例。本发明用以解决现有技术中神经网络测试时效率较低且成本较高的缺陷,减少对目标神经网络的访问次数,提升测试效率,降低测试成本。

    神经网络测试方法、装置、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN115374898A

    公开(公告)日:2022-11-22

    申请号:CN202210924040.X

    申请日:2022-08-02

    Applicant: 清华大学

    Inventor: 张超 汪嘉来 李琦

    Abstract: 本发明涉及计算机技术领域,尤其涉及一种神经网络测试方法、装置、设备及存储介质。方法包括:获取初始测试例,以及获取初始测试例对应的连续扰动;将连续扰动添加至初始测试例,获得扰动测试例;将扰动测试例输入需要测试的目标神经网络模型,获得目标神经网络模型输出的至少一个决策的决策置信度;根据决策置信度,获取目标神经网络模型对应的错误测试例。本发明用以解决现有技术中神经网络测试时效率较低且成本较高的缺陷,减少对目标神经网络的访问次数,提升测试效率,降低测试成本。

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