锥形双层介质界面电荷测量装置及方法

    公开(公告)号:CN111781433A

    公开(公告)日:2020-10-16

    申请号:CN202010496193.X

    申请日:2020-06-03

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明公开了一种锥形双层介质界面电荷测量装置及方法,该装置包括高压直流电源装置、高压脉冲电源装置、界面探测滑块、压电传感器滑块、数字示波器、计算机。该测量装置结合了界面探测技术及电声脉冲法空间电荷测量技术,突破传统针对一维空间电荷分布开展测量的局限性,实现了对锥形双层介质界面中的空间电荷分布的二维测量,测量精度高,结构简单,操作方便;并且通过数字示波器和计算机的处理,使得测量结果更加直观具体。

    锥形双层介质界面电荷测量装置及方法

    公开(公告)号:CN111781433B

    公开(公告)日:2021-09-10

    申请号:CN202010496193.X

    申请日:2020-06-03

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明公开了一种锥形双层介质界面电荷测量装置及方法,该装置包括高压直流电源装置、高压脉冲电源装置、界面探测滑块、压电传感器滑块、数字示波器、计算机。该测量装置结合了界面探测技术及电声脉冲法空间电荷测量技术,突破传统针对一维空间电荷分布开展测量的局限性,实现了对锥形双层介质界面中的空间电荷分布的二维测量,测量精度高,结构简单,操作方便;并且通过数字示波器和计算机的处理,使得测量结果更加直观具体。

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