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公开(公告)号：CN206756727U
公开(公告)日：2017-12-15
申请号：CN201720412861.X
申请日：2017-04-19
Applicant: 清华大学
IPC: G01N25/20
Abstract: 本实用新型涉及一种Seebeck系数测试装置，其包括控制模块、加热模块和数据采集模块；所述控制模块控制所述加热模块工作，且所述加热模块与所述数据采集模块连接；所述控制模块包括两可控硅调压器、一延时继电器、一单刀双掷开关和一总开关；两所述可控硅调压器一端都连接至零线，另一端都连接至火线，且两所述可控硅调压器的控制端都经所述单刀双掷开关连接至零线；位于其中一所述可控硅调压器控制端，在所述单刀双掷开关与零线之间还连接有所述延时继电器；位于零线上还设置有负责所述控制模块整体电源通断的所述总开关。本实用新型结构简单、测试准确、使用方便，提供较宽的测量范围，可以在半导体测试领域中广泛应用。
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