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公开(公告)号：CN107297024B
公开(公告)日：2019-12-24
申请号：CN201610231717.6
申请日：2016-04-14
IPC: A61N5/00
Abstract: 本发明涉及一种β敷贴器表面吸收剂量率校准装置及方法，所述校准装置包括底座、β敷贴器定位架和β外推电离室；所述β敷贴器定位架和β外推电离室固定在所述底座上。所述β敷贴器定位架包括轴向旋钮、径向旋钮、紧固螺帽、轴向旋进轴、轴承和源托。本发明的装置结构简单，操作方便，可灵活调节源与外推电离室的相对位置，实现敷贴器表面剂量率的测量和均匀性的测定。
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公开(公告)号：CN107300712A
公开(公告)日：2017-10-27
申请号：CN201610231731.6
申请日：2016-04-14
Abstract: 本发明涉及一种可同时测量β、γ能谱的层叠型闪烁体探测器，所述探测器具有一端开口的外壳及密封所述开口的铝化聚酯膜，所述聚酯膜内具有三层闪烁晶体结构及光电倍增模块，所述光电倍增模块收集所述三层闪烁晶体结构产生的闪烁光子并生成信号。所述方法通过分析光电倍增模块中光电倍增管的阳极输出脉冲的形状，对前述七种情形进行识别，取其特征量，判断脉冲中是否含有特定晶体产生的波形，最终实现对粒子类型的甄别。本发明能实现对100keV～3.5MeV能量范围内的β、γ粒子类型甄别，只需进行一次测量，可分别获取混合场中β能谱和γ能谱。对混合场中辐射源项识别和辐射防护措施设计有重要意义。
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公开(公告)号：CN107300712B
公开(公告)日：2021-08-17
申请号：CN201610231731.6
申请日：2016-04-14
Abstract: 本发明涉及一种可同时测量β、γ能谱的层叠型闪烁体探测器的测量方法，所述探测器具有一端开口的外壳及密封所述开口的铝化聚酯膜，所述外壳内具有三层闪烁晶体结构及光电倍增模块，所述光电倍增模块收集所述三层闪烁晶体结构产生的闪烁光子并生成信号。所述方法通过分析光电倍增模块中光电倍增管的阳极输出脉冲的形状，对入射粒子发生的能量沉积情形进行识别，取其特征量，判断脉冲中是否含有特定晶体产生的波形，最终实现对粒子类型的甄别。本发明能实现对100keV～3.5MeV能量范围内的β、γ粒子类型甄别，只需进行一次测量，可分别获取混合场中β能谱和γ能谱。对混合场中辐射源项识别和辐射防护措施设计有重要意义。
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公开(公告)号：CN103954986B
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201410154929.X
申请日：2014-04-17
Applicant: 清华大学
IPC: G01T1/00
Abstract: 本发明提出一种高位置分辨MRPC探测器的复用读出方法，包括以下步骤：通过复用读出转接板对高位置分辨MRPC探测器的读出电极条进行双精细复用，并由复用读出转接板输出处理后的信号；使用模拟或数字方法得到读出转接板输出脉冲波形的幅度、时间以及电荷量；根据电荷量通过入射点位置重建算法重建高位置分辨MRPC探测器的入射点的位置。本发明实施例的方法能够在实现高位置分辨能力的同时，大幅简化读出电子学系统。本发明还提供了一种高位置分辨MRPC探测器的复用读出系统。
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公开(公告)号：CN104535022A
公开(公告)日：2015-04-22
申请号：CN201410778507.X
申请日：2014-12-15
Applicant: 清华大学
IPC: G01B15/06
CPC classification number: G01B15/06
Abstract: 本发明提出一种基于宇宙线的材料形变的检测方法，包括以下步骤：获取宇宙线穿过材料的偏转角度分布和入、出射位置以作为假设检验的数据来源；根据假设检验的数据来源设计零假设和备择假设，并通过假设检验的方法进行分析；根据分析结果判断偏转角度分布是否存在显著差异；如果偏转角度分布存在显著差异，则判定材料发生形变；若已判断材料发生了形变，则根据做出此判断所需的数据量，计算材料的形变量的大小。本发明的方法缩短了宇宙线判断材料形变所需时间，提高材料形变无损检测的效率。本发明还提供了一种基于宇宙线的材料形变的检测系统。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103954986A
公开(公告)日：2014-07-30
申请号：CN201410154929.X
申请日：2014-04-17
Applicant: 清华大学
IPC: G01T1/00
Abstract: 本发明提出一种高位置分辨MRPC探测器的复用读出方法，包括以下步骤：通过复用读出转接板对高位置分辨MRPC探测器的读出电极条进行双精细复用，并由复用读出转接板输出处理后的信号；使用模拟或数字方法得到读出转接板输出脉冲波形的幅度、时间以及电荷量；根据电荷量通过入射点位置重建算法重建高位置分辨MRPC探测器的入射点的位置。本发明实施例的方法能够在实现高位置分辨能力的同时，大幅简化读出电子学系统。本发明还提供了一种高位置分辨MRPC探测器的复用读出系统。
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公开(公告)号：CN107297024A
公开(公告)日：2017-10-27
申请号：CN201610231717.6
申请日：2016-04-14
IPC: A61N5/00
Abstract: 本发明涉及一种β敷贴器表面吸收剂量率校准装置及方法，所述校准装置包括底座、β敷贴器定位架和β外推电离室；所述β敷贴器定位架和β外推电离室固定在所述底座上。所述β敷贴器定位架包括轴向旋钮、径向旋钮、紧固螺帽、轴向旋进轴、轴承和源托。本发明的装置结构简单，操作方便，可灵活调节源与外推电离室的相对位置，实现敷贴器表面剂量率的测量和均匀性的测定。
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公开(公告)号：CN103308938A
公开(公告)日：2013-09-18
申请号：CN201310207296.X
申请日：2013-05-29
Applicant: 清华大学
Abstract: 本发明公开一种缪子能量、径迹测量及成像系统与方法，该系统包括：被测物体，其中，宇宙中天然存在的缪子穿经被测物体；缪子径迹测量子系统，缪子径迹测量子系统与被测物体相连，用于测量缪子穿经被测物体过程中的径迹信息；缪子能量测量子系统，缪子能量测量子系统与被测物体相连，用于测量缪子穿经被测物体过程中的能量信息；缪子计算成像子系统，缪子计算成像子系统与缪子径迹测量子系统和缪子能量测量子系统相连，用于综合利用缪子穿经被测物体过程中能量信息和径迹信息对被测物体进行图像重建。本发明具有信息综合利用程度高、成像质量好的优点。
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公开(公告)号：CN203965629U
公开(公告)日：2014-11-26
申请号：CN201420187707.3
申请日：2014-04-17
Applicant: 清华大学
IPC: G01T1/00
Abstract: 本实用新型提出一种高位置分辨MRPC探测器的复用读出系统，包括：用于对高位置分辨MRPC探测器的读出电极条进行双精细复用，并输出处理后的信号的复用读出转接板；与复用读出转接板相连，用于对信号进行放大、成形和数字化处理后以生成波形数据的信号处理模块；与信号处理模块相连，用于根据波形数据通过模拟或数字的方法得到复用读出转接板输出脉冲波形的幅度、时间及电荷量的获取模块；与获取模块相连，用于根据幅度、时间及电荷量通过入射点位置重建算法重建高位置分辨MRPC探测器的入射点的位置的重建模块。本实用新型的系统能够在实现高位置分辨能力的同时，大幅简化读出电子学系统。
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公开(公告)号：CN203644403U
公开(公告)日：2014-06-11
申请号：CN201320888363.4
申请日：2013-12-30
Applicant: 清华大学
IPC: G21C17/07
Abstract: 本实用新型提供一种反应堆堆芯的成像系统，包括：多组探测器，每组探测器具有两个前后相对应的探测器，多组探测器环形的设置在反应堆的外侧，每组探测器检测穿过反应堆堆芯的宇宙射线得到宇宙射线在一组探测器的入射点、射出点和入射方向；处理器，处理器分别与多组探测器相连，根据从多组探测器接收到的宇宙射线的入射点、射出点和入射方向以确定反应堆堆芯的位置信息；图像重建装置，图像重建装置与处理器相连，以根据反应堆堆芯的多个位置信息重建反应堆堆芯的图像。根据本实用新型实施例的系统，通过多个探测器检测从多个方向入射来的宇宙射线的入射点、射出点和方向确定反应堆堆芯的位置，以重建反应堆堆芯的图像，提高重建速度和准确性。
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