公开(公告)号：CN115371545A

公开(公告)日：2022-11-22

申请号：CN202210804178.6

申请日：2022-07-07

Applicant: 海宁集成电路与先进制造研究院

Inventor： 张刘港 ,  高豆豆 ,  董登峰 ,  崔成君 ,  周培松 ,  蒋海涛 ,  敖俊姣 ,  甘晓旺 ,  王国名 ,  王博 ,  朱志忠 ,  程智 ,  李洋 ,  高超

IPC: G01B11/00 ,  G01C15/00 ,  G01C25/00

Abstract: 本申请提供一种激光跟踪仪姿态测量校准装置及方法。该装置包括姿态测量靶标和二维精密转台；所述二维精密转台包括转台主体、俯仰轴和横滚轴，所述俯仰轴转动连接于所述转台主体的上方，所述横滚轴的一端转动连接于所述俯仰轴，所述姿态测量靶标连接于所述横滚轴的另一端；所述横滚轴和所述俯仰轴沿轴向相互垂直。该方法通过二维精密转台的俯仰轴和横滚轴带动姿态测量靶标转动，将姿态测量靶标的俯仰和水平方向进行置换，实现了激光跟踪仪水平方向的姿态角测试，从而实现了激光跟踪仪的三维姿态测量校准。本申请有效地降低了精密转台的设计要求，降低了制造成本，减少了转台的误差传递链，并提高了二维精密转台的测量精度和稳定性。

公开(公告)号：CN114324346A

公开(公告)日：2022-04-12

申请号：CN202111341583.0

申请日：2021-11-12

Applicant: 海宁集成电路与先进制造研究院

Inventor： 王颖 ,  郝灿 ,  王国名 ,  王博 ,  高超 ,  董登峰 ,  李洋

IPC: G01N21/88

Abstract: 本说明书一个或多个实施例提供一种纺织品瑕疵检测方法及装置，包括根据待测纺织品的属性特征和/或瑕疵特征，确定目标光源模式，控制光源在目标光源模式下照射待测纺织品，控制图像采集单元采集待测纺织品的瑕疵图像；能够获得各种类型纺织品的高质量瑕疵图像，实现多种类型纺织品的瑕疵检测。

公开(公告)号：CN218238710U

公开(公告)日：2023-01-06

申请号：CN202221134564.0

申请日：2022-05-11

Applicant: 海宁集成电路与先进制造研究院

Inventor： 蒋海涛 ,  王国名 ,  甘晓旺 ,  周培松 ,  张刘港 ,  敖俊娇 ,  董登峰

IPC: G01B11/00 ,  G01B11/03

Abstract: 本实用新型提供了一种激光跟踪仪快速拆装的装置，包括与激光跟踪仪底部固定连接的圆盘件，以及位于该圆盘件下方的承接件；该圆盘件和该承接件之间通过至少两个锁紧装置连接；该锁紧装置包括凸轮套，该凸轮套内设有转轮，该转轮顶部设有水平向外延伸的凸块，与该凸轮套的顶面相抵；该凸轮套内壁设有与该凸块对应的竖槽，使该凸块对应该竖槽时该转轮能上下移动；该转轮底部连接销轴，该销轴底端设有旋钮；该转轮和该旋钮之间的销轴上套设有安装套，该安装套与该转轮之间的销轴套设有弹簧；该凸轮套固定设于该圆盘件底面内凹的第一安装孔内，该安装套固定设于该承接件顶面内凹的第二安装孔内。本实用新型结构简单，拆装方便，经济实用。