公开(公告)号：CN112912715B

公开(公告)日：2024-08-09

申请号：CN201980069718.7

申请日：2019-10-24

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 竹下照雄 ,  松村朋和 ,  近藤房宣 ,  岩田直树

IPC: G01N21/64

Abstract: 光学测定装置具备：光检测元件，其检测包含由被照射了激发光的免疫层析试验片产生的荧光、及起因于激发光的光、即具有与激发光相等的相位的散射光的检测光；及消除电路，其处理与检测光对应的检测信号；消除电路基于荧光与散射光中的相位的差异，自检测信号去除与散射光对应的信号成分。

公开(公告)号：CN115398210A

公开(公告)日：2022-11-25

申请号：CN202180026082.5

申请日：2021-01-21

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 近藤房宣 ,  岩田直树 ,  松村朋和 ,  竹下照雄

IPC: G01N21/64

Abstract: 在光学测定装置中，在第1处理中，对参考构件照射激发光，将包含来自参考构件的激发光的散射光的校准处理用光作为检测光予以检测，将与校准处理用光对应的校准信号作为检测信号，实施用于自第2处理中的检测信号去除与散射光对应的信号成分的校准处理。另外，在光学测定装置中，在第2处理中，对试样照射激发光，将包含自试样产生的荧光、及来自被照射了激发光的试样的散射光的测定对象光作为检测光予以检测，自测定信号去除与第1处理中的校准处理的实施结果中的散射光对应的信号成分。

公开(公告)号：CN115380204A

公开(公告)日：2022-11-22

申请号：CN202180026081.0

申请日：2021-01-21

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 岩田直树 ,  近藤房宣 ,  松村朋和 ,  竹下照雄

IPC: G01N21/64

Abstract: 光学测定装置具备照射光学系统、检测光学系统、及消除电路，在荧光检测处理中，以试样为照射对象，对试样照射照射光，将包含自被照射了照射光的试样产生的荧光、及来自被照射了照射光的试样的散射光的测定对象光作为检测光予以检测，考虑预先处理中的校准处理的实施结果，自与测定对象光对应的测定信号去除与散射光对应的信号成分；在预先处理中，基于信号量大于测定信号中的与散射光对应的信号的校准信号，实施用于自测定信号去除与散射光对应的信号成分的校准处理。

公开(公告)号：CN112912715A

公开(公告)日：2021-06-04

申请号：CN201980069718.7

申请日：2019-10-24

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 竹下照雄 ,  松村朋和 ,  近藤房宣 ,  岩田直树

IPC: G01N21/64

Abstract: 光学测定装置具备：光检测元件，其检测包含由被照射了激发光的免疫层析试验片产生的荧光、及起因于激发光的光、即具有与激发光相等的相位的散射光的检测光；及消除电路，其处理与检测光对应的检测信号；消除电路基于荧光与散射光中的相位的差异，自检测信号去除与散射光对应的信号成分。