公开(公告)号：CN119069312A

公开(公告)日：2024-12-03

申请号：CN202411419938.7

申请日：2024-10-11

Applicant: 浙江正泰电器股份有限公司

Inventor： 王艳杨 ,  夏晗旭 ,  王戈 ,  陈杨杰 ,  林泽儒

IPC: H01H71/12 ,  H01H71/10

Abstract: 本申请提供了一种漏电测试开关及断路器。该漏电测试开关包括测试主动组件、测试被动组件、联动组件、脱扣锁定组件、第一弹性导电件和第二弹性导电件。联动组件设于测试主动组件和测试被动组件之间，且联动组件与测试被动组件抵接，脱扣锁定组件设于测试主动组件和测试被动组件之间，用于锁定或者释放测试被动组件，第一弹性导电件与测试主动组件抵接，第二弹性导电件与联动组件抵接。通过利用联动组件联动测试主动组件和测试被动组件，实现对两个弹性导电件之间的距离控制，在断路器中存在漏电流时，有效断开脱扣锁定组件，避免脱扣锁定组件损坏。

公开(公告)号：CN119199639A

公开(公告)日：2024-12-27

申请号：CN202411506094.X

申请日：2024-10-24

Applicant: 浙江正泰电器股份有限公司

Inventor： 王艳杨 ,  陈杨杰 ,  王戈 ,  林泽儒 ,  夏晗旭

IPC: G01R31/52 ,  H01H71/24 ,  G01R1/00

Abstract: 本申请提供一种漏电测试组件及断路器，属于断路器技术领域，漏电测试组件包括电磁脱扣器、第一从动件以及第二从动件。电磁脱扣器包括磁轭，磁轭串联在断路器的测试回路中；第一从动件串联设置在测试回路中，与磁轭可分离抵接，形成测试回路的第一断点，用于触发测试回路导通；第二从动件串联设置在测试回路中，与磁轭可分离抵接，形成测试回路的第二断点，用于在电磁脱扣器因漏电流脱扣时断开测试回路。从而实现了通过闭合第一断点能够快速导通测试回路，而测试完成后通过第二断点能够可靠的断开测试回路，如此，避免了断路器中其他元器件的损坏。并且利用电磁脱扣器中磁轭的导电性质组成第一断点和第二断点，还节约了成本。