-
公开(公告)号：CN112113496B
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202010947475.7
申请日：2020-09-10
Applicant: 浙江工业大学
Abstract: 一种测量密封装置端面膜厚与膜压的试验台，包括由辅助静环座、密封腔体外壳、静环座组成的密封腔，密封腔设置在基座上，密封腔内设有位于密封腔上部的实验密封和位于密封腔下部的辅助密封，实验密封包括动环、静环和静环座，动环的内圆周通过螺钉安装有一块金属测试板，静环座内安装有电涡流传感器，电涡流传感器的测试端垂直并靠近金属测试板的上表面，电涡流传感器测量金属测试板的轴向位移得到端面膜厚变化；静环座的顶面设有微型荷重传感器、螺旋测微头和千分表，螺旋测微头以调整静环的初始位置，千分表以复核静环的初始位置。本发明通过螺旋测微头调节静环的初始位置，可以实现不同初始端面膜压条件下的实验，扩大了试验台的应用范围。
-
公开(公告)号：CN112113496A
公开(公告)日：2020-12-22
申请号：CN202010947475.7
申请日：2020-09-10
Applicant: 浙江工业大学
Abstract: 一种测量密封装置端面膜厚与膜压的试验台，包括由辅助静环座、密封腔体外壳、静环座组成的密封腔，密封腔设置在基座上，密封腔内设有位于密封腔上部的实验密封和位于密封腔下部的辅助密封，实验密封包括动环、静环和静环座，动环的内圆周通过螺钉安装有一块金属测试板，静环座内安装有电涡流传感器，电涡流传感器的测试端垂直并靠近金属测试板的上表面，电涡流传感器测量金属测试板的轴向位移得到端面膜厚变化；静环座的顶面设有荷重传感器、螺旋测微头和千分表，螺旋测微头以调整静环的初始位置，千分表以复核静环的初始位置。本发明通过螺旋测微头调节静环的初始位置，可以实现不同初始端面膜压条件下的实验，扩大了试验台的应用范围。
-
公开(公告)号：CN213179848U
公开(公告)日：2021-05-11
申请号：CN202021968587.2
申请日：2020-09-10
Applicant: 浙江工业大学
Abstract: 一种测量密封装置端面膜厚与膜压的试验台，包括由辅助静环座、密封腔体外壳、静环座组成的密封腔，密封腔设置在基座上，密封腔内设有位于密封腔上部的实验密封和位于密封腔下部的辅助密封，实验密封包括动环、静环和静环座，动环的内圆周通过螺钉安装有一块金属测试板，静环座内安装有电涡流传感器，电涡流传感器的测试端垂直并靠近金属测试板的上表面，电涡流传感器测量金属测试板的轴向位移得到端面膜厚变化；静环座的顶面设有荷重传感器、螺旋测微头和千分表，螺旋测微头以调整静环的初始位置，千分表以复核静环的初始位置。本实用新型通过螺旋测微头调节静环的初始位置，可以实现不同初始端面膜压条件下的实验，扩大了试验台的应用范围。
-
-
Search Results
3
records
(took 0.014 seconds)
