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公开(公告)号:CN101414054B
公开(公告)日:2010-12-15
申请号:CN200810162300.4
申请日:2008-11-21
申请人: 浙江大学
摘要: 本发明公开了一种利用全景环带成像透镜实现立体成像装置及其方法。物点发出的光线,经过第一全景环带成像透镜成像在像面上,其像为第一环带;物点发出的另外一条光线,经过第二全景环带成像透镜,也成像在同一像面上,其像为第二环带;通过改变第一全景环带成像透镜中各表面的曲率以及第二全景环带成像透镜中各表面的曲率,使得第一环带的外径,小于第二环带的内径。本发明利用位于同一光轴上的两个全景环形透镜,将环带物空间中的同一个物点成像在位于同一像面上的两个不重叠的像点上,由于该两个像点是从不同的视角对同一物点所获得的信息,因此就可获得该物点的立体信息,从而仅用一个光学系统就实现全景环带空间的立体成像。
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公开(公告)号:CN100367002C
公开(公告)日:2008-02-06
申请号:CN200510049066.0
申请日:2005-02-05
申请人: 浙江大学
摘要: 本发明公开了一种干涉型硅基芯片微光学陀螺。它具有依次连接的探测器、采样电路、数字信号处理电路、调制驱动电路、Y波导调制器、分束器、探测器,分束器与光源相接,Y波导调制器与螺旋光波导相接,螺旋光波导具有上层螺旋光波导、下层螺旋光波导、螺旋光波导的Si基底。本发明与光纤陀螺相比,微光学陀螺用光波导取代光纤,克服分立元件组合的不足,特别是光纤过长温度及振动影响大的缺点,可获得尺寸更小的高可靠性、高精度光陀螺;与微机械陀螺相比,可获得尺寸接近,无运动部件的全固化,精度更高、能批量生产的陀螺;新的光波导是在硅基上实现,因此微光学陀螺是芯片化陀螺。可将光源、光器件、处理电路做在一个硅芯片上,提高精度与可靠性。
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公开(公告)号:CN101609101B
公开(公告)日:2012-07-18
申请号:CN200910100767.0
申请日:2009-07-21
申请人: 浙江大学
IPC分类号: G01P15/097 , B81B7/02
摘要: 本发明公开了一种基于硅基高速电光调制的波导环形谐振腔的微加速度计。它包括SOI基底、质量块、悬臂梁、环形谐振腔以及PN结。SOI基底通过悬臂梁与质量块连接,SOI基底与悬臂梁连接处制作环形谐振腔,环形谐振腔包括直波导、环形腔,最后在环形腔内外形成PN结。所述的直波导的宽度为400nm~1μm,环形腔的直径为10μm~30μm,两者的耦合距离为200nm~500nm。通过离子注入方式在环形谐振腔内外掺杂硼和磷形成P型区域和N型区域构成PN结。该微加速度计利用了环形谐振腔的共振效应和小尺寸波导的强约束效应条件下的硅的电光效应,可以达到很高的调制速度。本发明是一种结构尺寸小、集成度高、调制速度快的硅基环形谐振腔的微加速度计。
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公开(公告)号:CN101059576A
公开(公告)日:2007-10-24
申请号:CN200710068224.6
申请日:2007-04-24
申请人: 浙江大学
摘要: 本发明公开了一种二元光子筛。它具有透光平面基底、基底上设有不透光薄膜,在不透光薄膜上设有透光小孔,透光小孔为平面式透光小孔和凹坑式透光小孔或者平面式透光小孔和凸台式透光小孔。本发明的有益效果:1)相对于菲涅尔波带片,光子筛上的小孔在对应的菲涅尔透光环带区域的随机分布,能够有效的抑制光轴方向的高阶衍射和横向的旁瓣效应,改善成像对比度,可以得到更为锐利的焦点;2)相对于菲涅尔波带片和振幅型光子筛,二元光子筛具有更高的衍射效率。
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公开(公告)号:CN1648604A
公开(公告)日:2005-08-03
申请号:CN200510049066.0
申请日:2005-02-05
申请人: 浙江大学
摘要: 本发明公开了一种干涉型硅基芯片微光学陀螺。它具有依次连接的探测器、采样电路、数字信号处理电路、调制驱动电路、Y波导调制器、分束器、探测器,分束器与光源相接,Y波导调制器与螺旋光波导相接,螺旋光波导具有上层螺旋光波导、下层螺旋光波导、螺旋光波导的Si基底。本发明与光纤陀螺相比,微光学陀螺用光波导取代光纤,克服分立元件组合的不足,特别是光纤过长温度及振动影响大的缺点,可获得尺寸更小的高可靠性、高精度光陀螺;与微机械陀螺相比,可获得尺寸接近,无运动部件的全固化,精度更高、能批量生产的陀螺;新的光波导是在硅基上实现,因此微光学陀螺是芯片化陀螺。可将光源、光器件、处理电路做在一个硅芯片上,提高精度与可靠性。
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公开(公告)号:CN1031961C
公开(公告)日:1996-06-05
申请号:CN92105788.1
申请日:1992-07-11
申请人: 浙江大学
IPC分类号: G01N21/88
摘要: “物品表面疵病的激光检测法及其检测仪”是用激光检测物品表面疵病的方法及其装置。该法是用激光对被测件表面进行扫描,通过去除被测件表面的零级谱,测定一级以上高次衍射频谱的光强并将其与标准比较来标定表面疵病及疵病等级的,激光检测仪是为实现该检测法而设计的检测装置,它能自动检测,标定物品表面的疵病,不仅适用于检测光学零件,也适用于检测钢材、陶瓷、纸张、塑料、布匹等表面疵病。本发明为正确、客观评价疵病开辟了新途径。
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公开(公告)号:CN1116776A
公开(公告)日:1996-02-14
申请号:CN95109897.7
申请日:1995-08-23
申请人: 浙江大学
IPC分类号: H01L41/083 , H01L41/187
摘要: 本发明公开了一种大变形压电陶瓷器件,它具有压电陶瓷双晶片,压电陶瓷双晶片具有正变形压电陶瓷片和负压电陶瓷片,各压电陶瓷双晶片在输出端与相邻的压电陶瓷双晶片经垫片刚性联接,组成压电陶瓷双晶叠堆,相邻两压电陶瓷双晶片的变形方向相反。本发明的优点是:变形动态范围大,变形幅度可达1mm以上,变形角可达8°(20℃),体积小重量轻,工作温度范围大,精度及重复性好。
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公开(公告)号:CN1074293A
公开(公告)日:1993-07-14
申请号:CN92105788.1
申请日:1992-07-11
申请人: 浙江大学
IPC分类号: G01N21/88
摘要: “物品表面疵病的激光检测法及其检测仪”是用激光检测物品表面疵病的方法及其装置。该法是用激光对被测件表面进行扫描,通过去除被测件表面的零级谱,测定一级以上高次衍射频谱的光强并将其与标准比较来标定表面疵病及疵病等级的,激光检测仪是为实现该检测法而设计的检测装置,它能自动检测,标定物品表面的疵病,不仅适用于检测光学零件,也适用于检测钢材、陶瓷、纸张、塑料、布匹等表面疵病。本发明为正确、客观评价疵病开辟了新途径。
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公开(公告)号:CN101726628A
公开(公告)日:2010-06-09
申请号:CN200910155715.3
申请日:2009-12-18
申请人: 浙江大学
摘要: 本发明公开了一种基于光纤多模干涉效应的光学微机械加速度传感器及方法。本发明采用单模光纤-多模光纤-单模光纤焊接而成传感器件,利用光纤多模干涉效应,通过改变多模光纤的长度、直径以及折射率实现传感;当宽谱光源的宽谱光从单模光纤进入多模光纤,高阶模式被激发并相互之间发生干涉,由于不同的模式耦合系数不同,从而耦合输出时光强最大波长随着不同长度的多模光纤发生改变,将单模光纤输出光谱用光谱仪探测,并输入计算机,根据光谱的变化传感可动质量块所敏感的外界轴向加速度的大小。本发明提高了光学微机械加速度传感器的测量精度和稳定性;增加了动态测量范围。
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