一种适用MPT光谱仪的垂直观测位置快速优化方法

    公开(公告)号:CN106323947B

    公开(公告)日:2019-02-15

    申请号:CN201610876880.8

    申请日:2016-10-08

    Abstract: 本发明提供了一种适用MPT光谱仪的垂直观测位置快速优化方法,包括:步骤1,对初测区域进行N个观测位置的待测波长光谱强度数据进行采集获得光谱强度初测矩阵R;根据所述观测位置的预设精度λ生成全观测区域的单位矩阵;步骤2,根据光谱强度初测矩阵R和全观测区域的单位矩阵A进行空间插值算法获得全观测区域内光谱强度预测模型M,所述M的每个元素包括一个坐标和对应坐标上的光谱强度值;步骤3,求解全观测区域内光谱强度预测模型M中光谱强度最大的元素MAX,根据该光谱强度最大的元素MAX获得的坐标为最佳观测位置。有效地提高了仪器的分析效率,减少了对标准样品、气体等资源消耗,有效降低了仪器的使用成本。

    一种适用MPT光谱仪的垂直观测位置快速优化方法

    公开(公告)号:CN106323947A

    公开(公告)日:2017-01-11

    申请号:CN201610876880.8

    申请日:2016-10-08

    CPC classification number: G01N21/73 G01J3/443

    Abstract: 本发明提供了一种适用MPT光谱仪的垂直观测位置快速优化方法,包括:步骤1,对初测区域进行N个观测位置的待测波长光谱强度数据进行采集获得光谱强度初测矩阵R;根据所述观测位置的预设精度λ生成全观测区域的单位矩阵;步骤2,根据光谱强度初测矩阵R和全观测区域的单位矩阵A进行空间插值算法获得全观测区域内光谱强度预测模型M,所述M的每个元素包括一个坐标和对应坐标上的光谱强度值;步骤3,求解全观测区域内光谱强度预测模型M中光谱强度最大的元素MAX,根据该光谱强度最大的元素MAX获得的坐标为最佳观测位置。有效地提高了仪器的分析效率,减少了对标准样品、气体等资源消耗,有效降低了仪器的使用成本。

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