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公开(公告)号:CN119602072A
公开(公告)日:2025-03-11
申请号:CN202411492467.2
申请日:2024-10-24
Applicant: 济南大学
Abstract: 本发明公开一种单光束光场稳定性检测装置及方法,涉及激光技术领域;而本发明包括半导体激光器、He‑Ne激光器和飞秒激光器,半导体激光器、He‑Ne激光器和飞秒激光器的发射光路上设有反射镜、扩束镜、衰减片、散射介质、胶合透镜、CCD相机和用于图像信息提取的电脑,半导体激光器放在反射镜前作为待测光场;本发明中,通过采用散射介质对待测光束进行稳定扰动,简化了光学结构,提高了测量效率,通过CCD相机的高速采集和长时间监测,能够实时、准确地反映半导体激光场的稳定性变化,通过检测装置和方法,具有操作简便、成本低廉、适用范围广等优点,可广泛应用于半导体激光器生产、检测、科研领域以及其他类型光场稳定性检测的场合。