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公开(公告)号：CN115358998A
公开(公告)日：2022-11-18
申请号：CN202211008652.0
申请日：2022-08-22
Applicant: 法博思(宁波)半导体设备有限公司
Abstract: 本发明公开了一种随机阵列图片中点坐标的获取方法及系统，获取随机阵列图片并进行二值化处理，所述图片中包括由多个点组成的阵列；基于预设卷积核通过卷积计算将所述图片中处于同一行/列的点连接起来形成多行/列连通域；获取每个连通域的外接矩形，根据待检测点所对应的连通域的行数和列数，获取待检测点的行列坐标。可对在芯片阵列出现行数和列数不固定、中间也有可能出现缺漏，整体矩阵倾斜等情况时对阵列中瑕疵芯片的行列坐标进行确定，对阵列角度的要求较低，倾斜度可以在5度左右(取决于阵列点与点之间的距离)，并且整个算法中点的像素坐标都没有参与到确定位置中去，避免了阵列角度倾斜造成坐标的错位。
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公开(公告)号：CN115358998B
公开(公告)日：2023-06-16
申请号：CN202211008652.0
申请日：2022-08-22
Applicant: 法博思(宁波)半导体设备有限公司
Abstract: 本发明公开了一种随机阵列图片中点坐标的获取方法及系统，获取随机阵列图片并进行二值化处理，所述图片中包括由多个点组成的阵列；基于预设卷积核通过卷积计算将所述图片中处于同一行/列的点连接起来形成多行/列连通域；获取每个连通域的外接矩形，根据待检测点所对应的连通域的行数和列数，获取待检测点的行列坐标。可对在芯片阵列出现行数和列数不固定、中间也有可能出现缺漏，整体矩阵倾斜等情况时对阵列中瑕疵芯片的行列坐标进行确定，对阵列角度的要求较低，倾斜度可以在5度左右(取决于阵列点与点之间的距离)，并且整个算法中点的像素坐标都没有参与到确定位置中去，避免了阵列角度倾斜造成坐标的错位。
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