一种半值层自动测量设备
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117722993A

    公开(公告)日:2024-03-19

    申请号:CN202311587579.1

    申请日:2023-11-27

    Abstract: 本发明涉及一种半值层自动测量设备,本发明有效解决了现有半值层测量过程中操作较为不便且测量精度低的问题;解决的技术方案包括:测量架上同轴心间隔设有第一环、第二环、第三环且第一环、第二环、第三环之与测量架转动安装,第一环、第二环、第三环的圆周壁上等距间隔设有若干安放孔且安放孔内设有限位组件,第一环、第二环、第三环分别连接有驱动组件,第一环中心位置设有探测器;在进行半值层测量过程中,无需工作人员更换(调整)铝片,整个过程只需控制相应的环进行转动,即可快速测出X射线源的半值层参数,而且还可实现对处于最外侧的铝片进行一定程度的清理,以免堆积于铝片表面的浮灰影响测量精度。

    一种砝码尺寸规格的测量设备

    公开(公告)号:CN220083873U

    公开(公告)日:2023-11-24

    申请号:CN202321502301.5

    申请日:2023-06-13

    Abstract: 本实用新型涉及砝码测量技术领域,且公开了一种砝码尺寸规格的测量设备,包括支撑体,所述支撑体的底端固定连接有伺服电机一,所述伺服电机一的输出轴固定套装有驱动辊,所述驱动辊的表面活动套接有传动带,所述传动带的外表面固定连接有推动板,所述支撑体的前侧固定连接有伺服电机二,所述伺服电机二的输出轴固定套装有滚珠丝杠,所述滚珠丝杠的表面啮合有移动夹持块,所述支撑体的顶端固定安装有固定夹持块,所述支撑体中部的前端滑动连接有分类下料板,所述支撑体的底端固定连接有下料仓,所述下料仓内腔的底端固定连接有缓冲垫。从而实现了对砝码的分类下料,从而不再需要准备多个测量设备对较大或者较小的砝码进行分开测量。

    一种体外碎石装置X射线辐射剂量自动调节测量支架

    公开(公告)号:CN222939275U

    公开(公告)日:2025-06-03

    申请号:CN202421324956.2

    申请日:2024-06-12

    Abstract: 本实用新型公开了一种体外碎石装置X射线辐射剂量自动调节测量支架,本实用新型属于医疗设备领域,解决了现有的辐射剂量测量仪器的支架调整不够精确的问题,包括支撑底板、顶杆、传导架和定位板,支撑底板顶端固定安装有顶杆,顶杆上端设置有传导架,传导架侧面固定安装有定位板,顶杆内部固定安装有升降机构,本实用新型中,通过设置升降机构,可以稳定、准确的对检测仪器的位置和高度进行调节,使用过程中通过对齿块间距、大小、体积进行限定和调整,让上端传导架的高度每一次移动间距都是固定的,让检测仪器的位置调整更加准确,从而大大的提高了设备使用时的稳定性和准确性,提高了整体的工作质量。

    一种复合材料的抗冲击性能测试装置

    公开(公告)号:CN222784397U

    公开(公告)日:2025-04-22

    申请号:CN202421168252.0

    申请日:2024-05-27

    Abstract: 本实用新型涉及复合材料的抗冲击性能测试技术领域,且公开了一种复合材料的抗冲击性能测试装置,包括工作台,所述工作台的内部开设有滑槽,所述滑槽的内部活动安装有螺纹套块二。本实用新型装置通过螺纹套块一和螺纹杆之间的配合,便于对冲击锤的高度进行调节,模拟从轻微到严重的多种冲击条件,实现对复合材料抗冲击性能的全面评估,这种方法不仅避免了频繁更换不同质量冲击锤的繁琐过程,而且显著提高了测试效率,在不同高度下进行冲击测试,能够获取一系列关键数据点,这些数据不仅揭示了复合材料抗冲击性能随冲击能量变化的规律,还为材料的优化和改进提供了宝贵的参考。

Patent Agency Ranking