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公开(公告)号：CN221883451U
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202420347199.4
申请日：2024-02-26
Applicant: 河北工程大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本实用新型公开了一种荧光分析仪校准测试的荧光标准卡，包括卡体、荧光带、滤光膜、定位条、防折板和连接组件，多个荧光带均安装于卡体上，滤光膜可拆卸设置于每个荧光带的上侧，多个滤光膜分别滑动安装于多个定位条之间，且防折板与多个定位条之间固定连接有多个防护座，两个连接组件分别对称设置于防折板的两侧，连接组件包括连接侧架、连接板和连接螺钉，连接侧架可拆卸安装于防折板的一侧。该荧光分析仪校准测试的荧光标准卡便于通过卡体、荧光带、滤光膜、定位条、防折板、防护座和连接组件的配合对荧光分析仪进行校准测试，同时便于减少卡体弯折时产生的裂痕对荧光分析仪的校准测试效果的影响。
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