一种散热铝基板生产加工工艺及其加工装置

    公开(公告)号:CN118989123A

    公开(公告)日:2024-11-22

    申请号:CN202411496086.1

    申请日:2024-10-25

    Abstract: 本发明公开了一种散热铝基板生产加工工艺及其加工装置,包括冲压机与上模组件和下模组件,所述冲压机的输出端固定安装有升降台,所述上模组件包括上模座和两个分别设于上模座两侧供升降台贯穿限位的导向座,以及设于上模座下方且滑动套装于两个导向座之间的压板,所述上模座包括安装座和若干个冲孔模,且若干个冲孔模外壁的前、后两侧均开设有沿竖直方向分布的条形槽,本发明涉及铝基板生产技术领域。该散热铝基板生产加工工艺及其加工装置,通过于冲孔模外壁前、后开设沿竖直方向分布的条形槽,配合两个呈对向设置的排刷,在冲孔完成后冲孔模的复位过程中,即可借助于排刷复位的弹性力将吸附于冲孔模端部的废料刷下,结构简单,清理效果好。

    一种多基色LED灯具调光设备
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119300201A

    公开(公告)日:2025-01-10

    申请号:CN202411827330.8

    申请日:2024-12-12

    Abstract: 本发明公开了一种多基色LED灯具调光设备,包括测试机台和积分球机台,测试机台上开设有操作室,操作室底壁上滑动配合有滑座,滑座远离积分球机台的一端安装有遮光板,滑座上安装有载具,载具上放置有灯具,滑座底部设置有输送机构,输送机构用于将滑座送入到积分球机台中,并使得遮光板与积分球机台进口端相贴合;本申请先将第二限位块转动至与灯具上表面相贴合,后驱动升降块向上运动,使得探针与灯具的电流输出控制芯片的焊盘相接触,本申请可以保持各探针与各基色电流输出控制芯片的焊盘相接触的状态,从而可以通过探针不断地将电流参数烧录到各基色电流输出控制芯片中,测试效率大大提高。

    一种无荧光粉多基色LED测试方法及系统

    公开(公告)号:CN119199458A

    公开(公告)日:2024-12-27

    申请号:CN202411703365.0

    申请日:2024-11-26

    Abstract: 本发明涉及LED测试领域,具体涉及一种无荧光粉多基色LED测试方法及系统。一种无荧光粉多基色LED测试系统,包括:LED单基色测试频率获取模块、采样频率分析模块和无荧光粉多基色LED测试模块。本发明将针对无荧光粉多基色LED进行测试的LED单基色测试频率送入采样频率分析模型进行分析,以输出针对无荧光粉多基色LED进行电变量采集的LED单基色采集频率,并基于LED单基色采集频率来对无荧光粉多基色LED测试时的电变量进行采集,进而通过采集到的电变量进行测试,无需人为的调整电变量的采集频率,并且能够提升电变量采集的准确率,进而提升无荧光粉多基色LED测试的准确率。

    一种无荧光粉多基色LED教室灯的配光方法及光学系统

    公开(公告)号:CN119052979A

    公开(公告)日:2024-11-29

    申请号:CN202411301166.7

    申请日:2024-09-18

    Abstract: 本发明涉及LED灯技术领域,尤其涉及一种无荧光粉多基色LED教室灯的配光方法及光学系统,该协同控制系统包括照明环境监测机构、LED灯自检测机构和协同控制机构,本发明通过在教室区域设置教室照明环境监测和设置LED灯内部自检测,并通过LED灯的协同控制机构根据照明环境监测机构的监测数据和LED灯自检测机构的检测数据对LED灯进行整体协调控制,通过教室照射需求确定LED灯的初始灯光照度值,以使根据该初始灯光照度值和预设灯光照度值确定启用LED灯时阵列式LED灯中的LED灯数量的启用方式,并分别设置不同的数量的启用方式,从而实现对教室区域进行精准控制照明。

    一种无荧光粉多基色LED照明灯光衰测试方法及系统

    公开(公告)号:CN118706413B

    公开(公告)日:2024-11-26

    申请号:CN202411202988.X

    申请日:2024-08-29

    Abstract: 本发明涉及光衰测试技术领域,尤其涉及一种无荧光粉多基色LED照明灯光衰测试方法及系统。该方法包括以下步骤:对LED照明灯进行实时工作监测,获取LED工作电流参数及LED温度参数;对LED照明灯进行结构热扩散效率计算,从而得到灯组件热扩散效率;基于灯组件热扩散效率对LED工作电流参数进行最优电流频率迭代仿真,生成最优多频电流参数;基于最优多频电流参数对LED照明灯进行多频驱动加速光衰测试模拟,获取照明区域图像及LED光衰测试特性参数;对LED光衰测试特性参数进行时序变化分析,从而得到光强;基于LED光衰测试特性参数对光强时序损失速率参数进行光通量损失统计,以生成光通量损失数据。本发明实现了高效、准确的LED光衰测试。

    一种无荧光粉多基色LED照明灯光衰测试方法及系统

    公开(公告)号:CN118706413A

    公开(公告)日:2024-09-27

    申请号:CN202411202988.X

    申请日:2024-08-29

    Abstract: 本发明涉及光衰测试技术领域,尤其涉及一种无荧光粉多基色LED照明灯光衰测试方法及系统。该方法包括以下步骤:对LED照明灯进行实时工作监测,获取LED工作电流参数及LED温度参数;对LED照明灯进行结构热扩散效率计算,从而得到灯组件热扩散效率;基于灯组件热扩散效率对LED工作电流参数进行最优电流频率迭代仿真,生成最优多频电流参数;基于最优多频电流参数对LED照明灯进行多频驱动加速光衰测试模拟,获取照明区域图像及LED光衰测试特性参数;对LED光衰测试特性参数进行时序变化分析,从而得到光强;基于LED光衰测试特性参数对光强时序损失速率参数进行光通量损失统计,以生成光通量损失数据。本发明实现了高效、准确的LED光衰测试。

    一种无荧光粉多基色混光灯珠的电变量测定方法及系统

    公开(公告)号:CN118259191A

    公开(公告)日:2024-06-28

    申请号:CN202410685327.0

    申请日:2024-05-30

    Abstract: 本发明公开了一种无荧光粉多基色混光灯珠的电变量测定方法及系统,涉及电变量测量技术领域。一种无荧光粉多基色混光灯珠的电变量测定系统,包括有:数据采集模块,数据分析模块和高频测定模块。本发明通过对一维电变量数据进行重构,得到待分析电变量数据组,可以挖掘一维电变量数据间的内在联系,揭示出更多的电变量信息,有助于精确了解无荧光粉多基色混光灯珠的状态和工作模式;通过利用群体优化算法设置预设时间段t且根据反馈结果对预设时间段t进行更新,有效地减少偶发性波动对于灯珠故障检测的影响,因为偶发性波动常常并不反映出灯珠的本质特性,而只是暂时的、非系统性的现象,通过消除这样的影响,可以提高模型的预测精度。

    一种基于LED教室灯的故障监测方法、系统及存储介质

    公开(公告)号:CN119556185A

    公开(公告)日:2025-03-04

    申请号:CN202510127386.0

    申请日:2025-02-04

    Abstract: 本申请提供一种基于LED教室灯的故障监测方法、系统及存储介质,涉及故障监测技术领域,获取LED教室灯的运行数据矩阵;在运行数据矩阵中提取运行电流序列,将运行电流序列转换为运行电流无偏域,通过运行电流无偏域确定LED教室灯在非稳态工作下的电流异变偏离特征;获取LED教室灯在非稳态工作下的运行光强数据,对运行光强数据进行非稳态特征提取,得到LED教室灯在非稳态工作下的光强故障特征向量;使用电流异变偏离特征和所述光强故障特征向量确定LED教室灯的故障类型信息,依据故障类型信息发送LED教室灯的故障报告,本申请可以有效提取出LED教室灯在非稳态工作下的运行电流特征及光强特征,以提高对LED教室灯的故障监测精度。

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