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公开(公告)号：CN117740778A
公开(公告)日：2024-03-22
申请号：CN202311608849.2
申请日：2023-11-28
Applicant: 江苏省特种设备安全监督检验研究院
Abstract: 本发明公开了一种用于测量2Cr13原奥氏体晶粒度的晶界显示方法。本发明所述晶界显示方法为：首先在待检试件上预制金相检验平台；然后待含预制金相检验平台的待检试件进行调质热处理，在预制金相检验平台上形成氧化层后，对预制金相检验平台进行二次金相制样，在显微镜下即可观察到黑色网状氧化带沿原奥氏体晶界分布，实现晶界的显示。通过观测晶界，可以晶粒度测定。本发明通过制备金相检验平台，同时利用热处理过程中产生的氧化层，结合金相制样工艺，获得可观测晶界的图像数据。本发明所述方法不需要复杂的浸蚀试剂配方，简单易操作、费用低廉，不需要二次受热，提高了晶界显示精度。
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