预测光纤衰减的方法
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107607297B

    公开(公告)日:2019-07-19

    申请号:CN201711050833.9

    申请日:2017-10-31

    Abstract: 本发明涉及一种预测光纤衰减的方法,其从拟用于制备光纤预制棒的芯棒上取样进行拉丝,制备出包含芯层和至少部分包层的检测用光纤,检测获得检测用光纤对波长为1310、1383和1550nm的光的实测衰减系数,计算这三种实测衰减系数两两之间的实测衰减系数差值,将这些实测衰减系数差值与对应的标准衰减系数差值进行比较,如果至少一个实测衰减系数差值与对应的标准衰减系数差值不一致,则判断采用该芯棒制备出的光纤衰减不合格。本发明能够提前预测出某些芯棒将制备出衰减不合格的光纤,以便将不合格芯棒剔除,避免因采用这些芯棒生产不合格光纤,进而避免浪费在后续不合格产品生产中的人力、物力、财力和时间,降低生产成本,提高生产效率。

    预测光纤衰减的方法
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107607297A

    公开(公告)日:2018-01-19

    申请号:CN201711050833.9

    申请日:2017-10-31

    Abstract: 本发明涉及一种预测光纤衰减的方法,其从拟用于制备光纤预制棒的芯棒上取样进行拉丝,制备出包含芯层和至少部分包层的检测用光纤,检测获得检测用光纤对波长为1310、1383和1550nm的光的实测衰减系数,计算这三种实测衰减系数两两之间的实测衰减系数差值,将这些实测衰减系数差值与对应的标准衰减系数差值进行比较,如果至少一个实测衰减系数差值与对应的标准衰减系数差值不一致,则判断采用该芯棒制备出的光纤衰减不合格。本发明能够提前预测出某些芯棒将制备出衰减不合格的光纤,以便将不合格芯棒剔除,避免因采用这些芯棒生产不合格光纤,进而避免浪费在后续不合格产品生产中的人力、物力、财力和时间,降低生产成本,提高生产效率。

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