公开(公告)号：CN105866239A

公开(公告)日：2016-08-17

申请号：CN201610262305.9

申请日：2016-04-25

Applicant: 江南大学

Inventor： 周德强 ,  潘萌 ,  陈德文 ,  常祥 ,  赵健 ,  杜阳 ,  安伟

IPC: G01N27/83

CPC classification number: G01N27/83

Abstract: 本发明提供了一种基于铁磁性试件的U型脉冲融合型传感器检测方法，本方法是针对铁磁性试件在U型线圈激励下表面缺陷和亚表面缺陷检测方式单一的问题，通过设计的U型脉冲融合型传感器检测方法实现对缺陷位置的确定和定量检测。所述的U型脉冲融合型传感器在检测铁磁性试件时，缺陷部位的响应信号会发生畸变；霍尔传感器则通过低通滤波电路处理信号，差分式检测线圈输出信号经过带通滤波电路处理，分别实现对表面缺陷和亚表面缺陷检测信号的图像化和对缺陷的识别和定量分析。本发明将两种检测方式同时进行，提高了检测效率；检测线圈采用差分式检测方法，霍尔传感器采用铁磁屏蔽罩，去除外界干扰信号，提高了检测精度。

公开(公告)号：CN106442711B

公开(公告)日：2020-04-21

申请号：CN201610649995.3

申请日：2016-08-08

Applicant: 江南大学

Inventor： 周德强 ,  潘萌 ,  陈德文 ,  赵健 ,  杜阳 ,  常详 ,  李可

IPC: G01N27/90

Abstract: 本发明提供了一种基于涡流反射与透射的无损检测方法，本方法利用常规涡流的反射作用和远场涡流的透射作用对铁磁性试件的表面缺陷和深层缺陷同时进行检测，用于识别表面与内部缺陷且能定量分析，有效解决了单纯远场涡流检测方法不能有效区分铁磁性试件内外缺陷，而常规涡流不能解决深层缺陷检测问题。检测过程中，当涡流传感器沿试件表面移动时，激励线圈对试件进行饱和磁化，同轴检测线圈用于检测试件表面缺陷，激励线圈外的磁屏蔽罩将直接耦合信号屏蔽，远场涡流检测线圈所拾取的为表面和深层缺陷信号。后续的信号进入锁相放大器模块、信号调理模块，由数据采集卡采集处理后的信号在PC机显示，实现铁磁性试件内外缺陷的分类识别与定量分析。

公开(公告)号：CN106442711A

公开(公告)日：2017-02-22

申请号：CN201610649995.3

申请日：2016-08-08

Applicant: 江南大学

Inventor： 周德强 ,  潘萌 ,  陈德文 ,  赵健 ,  杜阳 ,  常详 ,  李可

IPC: G01N27/90

Abstract: 本发明提供了一种基于涡流反射与透射的无损检测方法，本方法利用常规涡流的反射作用和远场涡流的透射作用对铁磁性试件的表面缺陷和深层缺陷同时进行检测，用于识别表面与内部缺陷且能定量分析，有效解决了单纯远场涡流检测方法不能有效区分铁磁性试件内外缺陷，而常规涡流不能解决深层缺陷检测问题。检测过程中，当涡流传感器沿试件表面移动时，激励线圈对试件进行饱和磁化，同轴检测线圈用于检测试件表面缺陷，激励线圈外的磁屏蔽罩将直接耦合信号屏蔽，远场涡流检测线圈所拾取的为表面和深层缺陷信号。后续的信号进入锁相放大器模块、信号调理模块，由数据采集卡采集处理后的信号在PC机显示，实现铁磁性试件内外缺陷的分类识别与定量分析。

公开(公告)号：CN205879865U

公开(公告)日：2017-01-11

申请号：CN201620853405.4

申请日：2016-08-08

Applicant: 江南大学

Inventor： 周德强 ,  潘萌 ,  陈德文 ,  赵健 ,  杜阳 ,  常详 ,  李可

IPC: G01N27/90

Abstract: 本实用新型提供了一种基于涡流反射与透射的无损检测系统，本系统利用常规涡流的反射作用和远场涡流的透射作用对铁磁性试件的表面缺陷和深层缺陷同时进行检测，用于识别铁磁性试件表面与内部缺陷且能定量分析，有效解决了单纯远场涡流检测系统不能有效区分铁磁性试件内外缺陷，而常规涡流不能解决深层缺陷检测问题。检测系统主要包括信号发生器、功率放大器、涡流传感器、锁相放大器和信号处理模块。所述的涡流传感器主要由激励线圈和检测线圈两个部分组成，其中激励线圈为圆柱形线圈，外部套有同轴的铁磁屏蔽罩，两个检测线圈一个为激励线圈内部的同轴检测线圈，用于检测试件表面缺陷，另一个为远场涡流检测线圈，用于拾取表面与深层缺陷信号。