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公开(公告)号:CN101142476A
公开(公告)日:2008-03-12
申请号:CN200680008191.X
申请日:2006-03-17
Applicant: 毫微-专卖股份有限公司
IPC: G01N27/403 , G01N27/414
Abstract: 本发明提供了一种用于探测分析物气体的设备。所述设备可包括信号放大器,所述信号放大器可包括薄膜晶体管,所述薄膜晶体管可包括具有半导体特性的膜,所述具有半导体特性的膜可包括能够与所述分析物气体例如一氧化碳产生化学相互作用的金属氧化物。所述设备可通过改变所述晶体管的栅电压来进行调整,从而检测所述分析物气体。
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