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公开(公告)号：CN107358255A
公开(公告)日：2017-11-17
申请号：CN201710504532.2
申请日：2017-06-28
申请人： 武汉精测电子技术股份有限公司
IPC分类号： G06K9/62
CPC分类号： G06K9/6262 , G06K9/6268
摘要： 本发明公开了一种基于卷积神经网络的GAMMA绑点分类学习方法，用于对OLED模组的GAMMA绑点的寄存器配置值进行分类学习，该方法包括以下步骤：1)提供一包含目标GAMMA绑点的多个初始亮度值、或/和多个初始色度值及与每个该初始亮度值、或/和每个该初始色度值相对应的多个RGB寄存器配置值的数据集；2)将该多个初始亮度值、或/和该多个初始色度值作为输入值，该多个RGB寄存器配置值作为输出值，利用卷积神经网络对该数据集进行训练，得到该目标GAMMA绑点的GAMMA数据模型。本发明通过对各GAMMA绑点的初始亮度值或/和初始色度值与RGB寄存器配置值的关系的分类学习，能为OLED模组GAMMA曲线的快速调校提供高精度的数据模型，能满足OLED模组产线高品质、高效率的要求。
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公开(公告)号：CN104849885B
公开(公告)日：2017-09-29
申请号：CN201510310112.1
申请日：2015-06-08
申请人： 武汉精测电子技术股份有限公司
IPC分类号： G02F1/13
摘要： 本发明涉及一种基于工控机实现液晶模组测试的一体化装置及方法，该装置包括：电源模块；工控机主板模块，与所述电源模块连接；多路电源模块，与所述电源模块连接；PG模块，与所述多路电源模块连接；所述PG模块包括ARM和FPGA，所述FPGA生成LVDS信号输出；显卡，与所述FPGA连接，用于接收所述LVDS信号；输出接口模块，分别与所述显卡和多路电源模块连接；以及显示模块，与所述ARM连接。本发明能够将日常普通工控机和PG整合在一起，体积的压缩更方便了生产商携带设备，多环境下常温测试，移动测试。此外，将工控机和PG一体化减少了生产独立PG的额外辅材成本。
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公开(公告)号：CN104700759B
公开(公告)日：2017-09-22
申请号：CN201510115208.2
申请日：2015-03-17
申请人： 武汉精测电子技术股份有限公司
IPC分类号： G09G3/00
摘要： 本发明涉及一种显示面板亮度频谱分析装置，它包括显示器、用于实时采集待测显示面板的亮度信号并同步转换成数字信号的亮度传感器、用于将时域亮度数字信号变化为频域亮度数字信号的嵌入式处理模块，亮度传感器的信号输出端连接嵌入式处理模块的信号输入端，嵌入式处理模块的显示信号输出端连接显示器的显示信号输入端。本发明可以模拟人眼对环境光的感知，高速测量出显示面板的亮度信号，提供详细的亮度频谱分析，从而快速找出显示面板出现闪烁现象的原因。
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公开(公告)号：CN104575342B
公开(公告)日：2017-09-22
申请号：CN201410843072.2
申请日：2014-12-30
申请人： 武汉精测电子技术股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种一体式液晶模组测试装置，包括ARM核心模块、信号处理模块、电源模块、信号输出及控制模块，信号输出及控制模块包括MCU子模块、FPGA信号处理子模块、信号处理转换芯片和信号输出子模块，ARM核心模块分别与信号处理模块、电源模块及信号输出及控制模块连接，信号处理模块与信号输出及控制模块连接，电源模块和信号输出子模块分别与待测液晶模组连接。本发明将上位机的操作系统及测试应用程序运行平台集成到液晶模组测试设备上，脱离上位机直接进行液晶模组配置及测试操作，无需共享或下载；另外，测试装置能同时兼容多种常见的测试信号，减少转接线材的使用。
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公开(公告)号：CN104865717B
公开(公告)日：2017-09-19
申请号：CN201510318999.9
申请日：2015-06-11
申请人： 武汉精测电子技术股份有限公司
摘要： 本发明涉及MIPI模组点屏测试中自适应错误处理方法。BMP图像及参数获取处理模块将启动开屏指令、三原色图像数据及对应的同步信号输送给MIPI开屏指令发送模块，MIPI开屏指令发送模块在收到BMP图像及参数获取处理模块发送的启动开屏指令后发送开屏指令，第一错误状态检测模块根据MIPI液晶模组反馈的信号进行错误检测，将检测结果发送至第一错误处理模块进行错误处理，错误处理完毕后MIPI开屏指令发送模块将三原色数据转换成MIPI信号发送给MIPI信号发送模块，第二错误状态检测模块根据MIPI液晶模组反馈的信号进行错误检测，将检测结果发送至第二错误处理模块进行错误处理。本发明能对错误进行自适应处理，并有效指导非开发人员对点屏不成功的MIPI液晶模组进行维修。
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公开(公告)号：CN104793099B
公开(公告)日：2017-08-11
申请号：CN201510232504.0
申请日：2015-05-08
申请人： 武汉精测电子技术股份有限公司
IPC分类号： G01R31/02
摘要： 本发明涉及LVDS检测技术领域，尤其涉及一种LVDS开短路检测装置和检测方法，它包括LVDS发送器、LVDS接收器和用于连接LVDS发送器与LVDS接收器的LVDS互联器，还包括逻辑检测电路，所述LVDS发送器输出端连接有比较器，所述比较器的正向输入端与LVDS发送器P端连接，所述比较器的反向输入端与LVDS发送器N端连接，所述比较器的输出端与逻辑检测电路连接。本发明吸取了传统LVDS互联器开路检测的优点，同时也能通过简单的外围电路实现LVDS的短路检测，省去了复杂的软硬件开发设计，操作简单，成本低廉，检测正确性及检测效率很高；另外，本发明的电路不会对LVDS信号的正常传输产生影响。
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公开(公告)号：CN104765691B
公开(公告)日：2017-05-24
申请号：CN201510197140.7
申请日：2015-04-23
申请人： 武汉精测电子技术股份有限公司
IPC分类号： G06F11/36
摘要： 本发明公开了一种液晶模组的修正代码判断方法，包括：1、在上位机上层应用软件的缺陷代码文件夹内编辑与当前液晶模组生产线对应的液晶模组修正代码初始化文件；2、在液晶模组缺陷等级判定界面中，根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》并结合待测液晶模组的检测结果选择对应的液晶模组缺陷等级；3、在液晶模组缺陷等级判定界面中，对液晶模组修正代码初始化文件解析，从析出液晶模组缺陷等级对应的多个修正代码；4、用户根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》并结合待测液晶模组的检测结果选择待测液晶模组检测结果所对应的修正代码。本发明能减少上位机程序的代码量。
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公开(公告)号：CN104076811B
公开(公告)日：2017-01-25
申请号：CN201410259698.9
申请日：2014-06-12
申请人： 武汉精测电子技术股份有限公司
IPC分类号： G05B23/02
摘要： 本发明公开了一种模拟iic芯片的测试设备，它包括控制单元、通信单元、配置单元和iic模拟响应单元，其中，控制单元的三个通信端分别连接通信单元、配置单元和iic模拟响应单元，所述iic模拟响应单元连接有iic从接口单元，所述iic从接口单元能通过iic总线与待检设备的iic主接口单元进行数据通信。本发明能减少实际iic外围设备器件的介入，通过一个设备就能模拟各种iic外围设备器件，明显提高了检测嵌入式设备是否正常的效率。
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公开(公告)号：CN104360511B
公开(公告)日：2017-01-18
申请号：CN201410691289.6
申请日：2014-11-25
申请人： 武汉精测电子技术股份有限公司
IPC分类号： G02F1/13
摘要： 本发明公开了一种实现两种模式的MIPI模组测试方法和测试系统，用于VIDEO模式和COMMAND模式MIPI模组的出厂前配置测试。本发明的优点包括：能够实现VIDEO模式和COMMAND模式两种模式MIPI模组的点屏测试；针对COMMAND模式的MIPI模组，通过FPGA生成图像数据，MCU通过FPGA转发MIPI模组的寄存器配置参数，可以实现寄存器配置参数和图像数据在同一个通道进行发送；除了基本的点屏测试功能，本技术方案提供了COMMAND模式MIPI模组的Vcom调节、模组ID读取和保存、MTP数据编辑和烧录等多种测试功能，适应了MIPI生产过程中的多种需求。
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公开(公告)号：CN104217667B
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201410449984.1
申请日：2014-09-05
申请人： 武汉精测电子技术股份有限公司
IPC分类号： G09G3/00
摘要： 本发明公开了一种实现COMMAND模式的MIPI模组测试方法和测试系统，用于COMMAND模式MIPI模组的出厂前配置测试，其方法的主要步骤包括：PG图像发生器根据MIPI模组的类型设置寄存器配置参数和图像数据，并将寄存器配置参数发送至MCU，将图像数据通过LVDS数据总线接口发送至FPGA；MCU根据寄存器配置参数产生DCS指令并发送至FPGA；FPGA通过LVDS数据总线接口接收图像数据信号，再将DCS指令与图像数据打包后发送至桥接芯片；桥接芯片发送DCS指令配置MIPI模组，并将图像数据转化为MIPI信号后传送至MIPI模组，MIPI模组根据MIPI信号显示图像数据，测试完成。
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