一种利用XRD快速检测偏高岭土活性的方法

    公开(公告)号:CN115980107A

    公开(公告)日:2023-04-18

    申请号:CN202211586246.2

    申请日:2022-12-09

    Abstract: 本发明公开了一种利用XRD快速检测偏高岭土活性的方法,包括如下步骤:将偏高岭土样品放入X射线衍射仪中,进行XRD慢扫;将XRD衍射仪测得的数据导入XRD分析软件,寻峰、扣背底,获得寻峰数据;根据所得寻峰数据,计算衍射峰高与相应半峰宽的比值R;对R值为1000以下的所有衍射峰的面积进行求和计算,得∑S衍射峰;最后采用上述相同检测和分析条件,计算不同偏高岭土粉末的∑S衍射峰,根据∑S衍射峰的数值高低,评价不同偏高岭土粉末的活性高低情况。本发明首次提出一种利用XRD快速检测和评价偏高岭土活性的方法,该方法简便、高效,可为偏高岭土活性的高效检测提供一条新思路。

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