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发明公开
一种变形监测装置和变形监测方法审中-实审

公开(公告)号：CN118670293A

公开(公告)日：2024-09-20

申请号：CN202410944667.0

申请日：2024-07-15

申请人： 武汉理工大学

发明人： 郭运华 , 焦阳 , 董舒娅 , 梁文羲

IPC分类号： G01B11/16

摘要： 本申请公开了一种变形监测装置和变形检测方法，其中，变形监测装置包括第一光纤光栅、第二光纤光栅、第一测量单元和第二测量单元，所述第一测量单元的远端与所述第二测量单元的近端铰接，所述第二测量单元能够在沉降方向上相对所述第一测量单元转动，所述第一光纤光栅的近端紧贴并固定在所述第一测量单元的顶部，所述第一光纤光栅的远端紧贴并固定在所述第二测量单元的顶部，所述第二测量单元的近端紧贴并固定所述第一测量单元的底部，所述第二光纤光栅的远端紧贴并固定在所述第二测量单元的底部，该变形监测装置测量精度高，适用范围广，使用该变形监测装置的变形监测方法能够获得各点的位移沉降变形量。