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公开(公告)号：CN106447521A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201610475766.4
申请日：2016-06-24
Applicant: 武汉理工大学
Inventor： 杨杰 , 熊德智 , 陈奕蕾 , 刘滢 , 其他发明人请求不公开姓名
IPC: G06Q50/06
CPC classification number: G06Q50/06
Abstract: 本发明公开了一种微型断路器资产寿命预测方法，包括如下步骤：1)确定资产寿命影响因素变量Xi，采集数据，i为自然数；2)对所述资产寿命影响因素变量进行主成分分析，确定主成分Fh，h为自然数；3)根据所述主成分Fh建立多元线性回归模型；4)计算微型断路器寿命Y*的取值区间。本发明通过建立精益化的数学模型、全面量化的指标体系，识别影响微型断路器资产寿命的关键因素，实现微型断路器资产全寿命周期的质量分析和寿命评价，对资产质量进行有效监督。
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