公开(公告)号：CN108411350A

公开(公告)日：2018-08-17

申请号：CN201810307237.2

申请日：2018-04-08

申请人： 武汉大学苏州研究院

发明人： 潘春旭 ,  宋贡生 ,  杨延鹏

IPC分类号： C25D15/00 ,  C25D3/20

摘要： 本发明提供一种在低温下(

公开(公告)号：CN108411350B

公开(公告)日：2020-04-14

申请号：CN201810307237.2

申请日：2018-04-08

申请人： 武汉大学苏州研究院

发明人： 潘春旭 ,  宋贡生 ,  杨延鹏

IPC分类号： C25D15/00 ,  C25D3/20

摘要： 本发明提供一种在低温下(

公开(公告)号：CN106680418A

公开(公告)日：2017-05-17

申请号：CN201611248069.1

申请日：2016-12-29

申请人： 武汉大学

发明人： 潘春旭 ,  宋贡生 ,  杨延鹏

IPC分类号： G01N31/12 ,  G01N31/10

CPC分类号： G01N31/12 ,  G01N31/10

摘要： 本发明公开了一种电化学沉积法制备的金属基碳纳米复合材料中增强材料含量的测定方法。采用高频红外碳硫分析仪对金属基碳纳米复合材料中的碳含量进行测定，测定精度可达1 ppm，并且可以测多种金属与多种碳纳米复合材料中的碳增强材料含量。本方法操作简单、快速、精确度高、重复性好，以及测量范围广，是一种理想的直接精确测试金属基复合材料碳纳米增强材料含量的方法，可广泛应用于实际工程和实验室的金属基碳纳米复合材料领域。