屏幕缺陷的检测方法、检测设备以及计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN115018797A

    公开(公告)日:2022-09-06

    申请号:CN202210663380.1

    申请日:2022-06-13

    Abstract: 本发明涉及屏幕检测技术领域,尤其涉及一种屏幕缺陷的检测方法、检测设备以及计算机可读存储介质,其中,所述方法包括:获取屏幕检测图像,并根据二值化处理后的所述屏幕检测图像确定待检测屏幕的显示区域轮廓;根据所述显示区域轮廓确定所述待检测屏幕对应的待处理区域;将灰度均值和区域面积满足预设条件的所述待处理区域,作为疑似缺陷区域;根据所述疑似缺陷区域对应的局部图像与模板图像之间的匹配度,确定所述待检测屏幕是否存在缺陷,其中,所述模板图像为二值图。提升了屏幕检测的准确度,解决了如何检测屏幕边缘缺陷的问题。

    屏幕缺陷检测方法、设备和可读存储介质

    公开(公告)号:CN117351011B

    公开(公告)日:2024-03-12

    申请号:CN202311641891.4

    申请日:2023-12-04

    Abstract: 本申请公开了一种屏幕缺陷检测方法、设备和可读存储介质,涉及光学设备的检测领域,该方法包括:确定待检测屏幕的影像信息对应的二值图,并根据所述二值图中的灰度值跳变信息确定目标轮廓图像;确定所述目标轮廓图像进行灰度值填充后的填充图像;分别对所述目标轮廓图像以及所述填充图像进行高斯差分处理,确定第一缺陷图像以及第二缺陷图像;基于所述第一缺陷图像以及所述第二缺陷图像的灰度差值图,判定是否存在目标缺陷。有效解决了相关技术中位于屏幕边缘的缺陷容易误判为屏幕轮廓的一部分,导致漏检率高的技术问题,实现了将边缘缺陷与轮廓进行分离,准确提取边缘缺陷的技术效果。

    屏幕缺陷检测方法、设备和可读存储介质

    公开(公告)号:CN117351011A

    公开(公告)日:2024-01-05

    申请号:CN202311641891.4

    申请日:2023-12-04

    Abstract: 本申请公开了一种屏幕缺陷检测方法、设备和可读存储介质,涉及光学设备的检测领域,该方法包括:确定待检测屏幕的影像信息对应的二值图,并根据所述二值图中的灰度值跳变信息确定目标轮廓图像;确定所述目标轮廓图像进行灰度值填充后的填充图像;分别对所述目标轮廓图像以及所述填充图像进行高斯差分处理,确定第一缺陷图像以及第二缺陷图像;基于所述第一缺陷图像以及所述第二缺陷图像的灰度差值图,判定是否存在目标缺陷。有效解决了相关技术中位于屏幕边缘的缺陷容易误判为屏幕轮廓的一部分,导致漏检率高的技术问题,实现了将边缘缺陷与轮廓进行分离,准确提取边缘缺陷的技术效果。

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